HALT試驗(yàn)（Highly accelerated life test）

描述：

HALT（高加速壽命測(cè)試）：Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的工序，它通過(guò)設(shè)置逐級(jí)遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來(lái)加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，較大的特點(diǎn)是設(shè)置樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正?？煽啃詰?yīng)力條件下的所需時(shí)間。

目的：

在HALT試驗(yàn)中可找到被測(cè)物在溫度及振動(dòng)應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限；為開(kāi)發(fā)人員改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)方案提供依據(jù)，以對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷進(jìn)行及時(shí)的修正；并為HASS的應(yīng)力類(lèi)型和應(yīng)力量級(jí)的選擇提供依據(jù)。

作用：

快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制程上的薄弱點(diǎn)；幫助提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)的欲度；有效地提高產(chǎn)品的可靠性；節(jié)省設(shè)計(jì)時(shí)間和費(fèi)用；幫助排除產(chǎn)品設(shè)計(jì)的問(wèn)題；幫助評(píng)估產(chǎn)品設(shè)計(jì)的變更。

原理：

測(cè)試沒(méi)有通過(guò)與不通過(guò)的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)；所有的樣品需要測(cè)試到失效為止；測(cè)試中，樣品需要被實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)；測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的任何問(wèn)題都需要進(jìn)行分析，找出失效原因；該測(cè)試結(jié)果不能用來(lái)量化產(chǎn)品的可靠性。

應(yīng)用范圍：

電子、元器件、電路板等電工電子產(chǎn)品零部件。

試驗(yàn)項(xiàng)目：