包裝運(yùn)輸?shù)恼駝?dòng)測(cè)試,其實(shí)影響包裝運(yùn)輸質(zhì)量評(píng)估的因素遠(yuǎn)不止這些。包裝跌落測(cè)試是為了產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時(shí)的情況,從而了解產(chǎn)品受損情況及評(píng)估產(chǎn)品包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度,從而根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計(jì)。
一般來(lái)講為評(píng)估分析電子產(chǎn)品的可靠性所做的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),通過(guò)可靠性試驗(yàn),可確定電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或儲(chǔ)存的可靠性特征量,對(duì)使用生產(chǎn)和設(shè)計(jì)提供有用的數(shù)據(jù);也可能會(huì)暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、原料和工藝過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題。
高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試,是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)?;旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存,或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化,時(shí)高時(shí)低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響,會(huì)加速產(chǎn)品的老化,縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下,則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測(cè)試。高低溫試驗(yàn)是產(chǎn)品可靠性的必測(cè)項(xiàng)目,那么高低溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品到底有哪些影響?
本文提出的Flotherm軟件在分析傳熱學(xué)方面起著巨大作用,尤其適用于電子線路板熱可靠性的分析與判斷。其在電子線路板熱可靠性分析中的應(yīng)用,關(guān)鍵在于如何構(gòu)建合理、有效的Flotherm模型,以期在確保精確度的同時(shí),符合計(jì)算機(jī)內(nèi)存的容量需求。
可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。電子元件的可靠性是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ),要提高設(shè)備或系統(tǒng)的可靠性必須提高電子元件的可靠性??煽啃允请娮釉匾|(zhì)量指標(biāo),須加以考核和檢驗(yàn)。為幫助大家深入了解,本文將對(duì)低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性的相關(guān)知識(shí)予以匯總。如果您對(duì)本文即將要涉及的內(nèi)容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。
產(chǎn)品檢驗(yàn)是現(xiàn)代電子企業(yè)生產(chǎn)中必不可少的質(zhì)量監(jiān)控手段,主要起到對(duì)產(chǎn)品生產(chǎn)的過(guò)程控制、質(zhì)量把關(guān)、判定產(chǎn)品的合格性等作用。產(chǎn)品的檢驗(yàn)應(yīng)執(zhí)行自檢、互檢和專職檢驗(yàn)相結(jié)合的“三檢”制度。電子封裝中廣泛采用的SMT封裝技術(shù)及新型的芯片尺寸封裝(CSP)、焊球陣列(BGA)等封裝技術(shù)均要求通過(guò)焊點(diǎn)直接實(shí)現(xiàn)異材間電氣及剛性機(jī)械連接(主要承受剪切應(yīng)變),它的質(zhì)量與可靠性決定了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。
數(shù)據(jù)可靠性原本在中文里叫數(shù)據(jù)完整性,現(xiàn)在改稱為數(shù)據(jù)可靠性。數(shù)據(jù)可靠性(DataIntegrity)是指在數(shù)據(jù)的生命周期內(nèi),所有數(shù)據(jù)都是完全的、一致的和準(zhǔn)確的程度。保證數(shù)據(jù)的完整性意味著以準(zhǔn)確的、真實(shí)的、完全地代表著實(shí)際發(fā)生的方式收集、記錄、報(bào)告和保存數(shù)據(jù)和信息。數(shù)據(jù)可靠性是近年全球藥品監(jiān)管機(jī)構(gòu)重點(diǎn)關(guān)注的問(wèn)題,也是CFDA自2015年7月以來(lái)開(kāi)展全國(guó)臨床試驗(yàn)核查的動(dòng)因和重點(diǎn)內(nèi)容。
無(wú)論是在制造組裝流程還是在實(shí)際使用中,PCB都要具有可靠的性能,這一點(diǎn)至關(guān)重要。除相關(guān)成本外,組裝過(guò)程中的缺陷可能會(huì)由PCB帶進(jìn)最終產(chǎn)品,在實(shí)際使用過(guò)程中可能會(huì)發(fā)生故障,導(dǎo)致索賠。PCB不論內(nèi)在質(zhì)量如何,表面上都差不多,正是透過(guò)表面,我們才看到差異,而這些差異對(duì)PCB在整個(gè)壽命中的耐用性和功能至為關(guān)鍵。下面一起來(lái)看看高可靠性pcb線路板具備非常明顯的14個(gè)特征:
電子封裝是電子制造產(chǎn)業(yè)鏈中將芯片轉(zhuǎn)換為能夠可靠工作的器件的過(guò)程。由于裸芯片無(wú)法長(zhǎng)期耐受工作環(huán)境的載荷、缺乏必要的電信號(hào)連接,無(wú)法直接用于電子設(shè)備。因此,雖然不同類型產(chǎn)品有差別,但是電子封裝的主要功能比較接近,主要包括四大功能:機(jī)械支撐,將芯片及內(nèi)部其他部件固定在指定位置;環(huán)境保護(hù),保護(hù)芯片免受外界的水汽、腐蝕、灰塵、沖擊等載荷影響;電信號(hào)互連,為內(nèi)部組件提供電通路及供電;散熱,將芯片工作時(shí)產(chǎn)生的熱量及時(shí)導(dǎo)出[1]。按照工藝階段的不同,電子封裝通??煞譃榱慵?jí)封裝(芯片級(jí)互連)、 一級(jí)封裝(芯片級(jí)封
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。 原理: 試樣在高溫高濕度以及偏壓的苛刻環(huán)境下,加速濕氣穿過(guò)外部的保護(hù)層,或沿著金屬和外保護(hù)層的分界面穿透,造成試樣的失效。
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試