STM32F030CCT6失效分析報告
日期:2021-05-12 11:03:41 瀏覽量:8201 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心
根據(jù)應(yīng)用端故障描述與綜上測試結(jié)果分析認為 F3 樣品故障是由于器件內(nèi)部引腳分層導(dǎo)致第二焊點異常所致功能失效。
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根據(jù)應(yīng)用端故障描述與綜上測試結(jié)果分析認為 F3 樣品故障是由于器件內(nèi)部引腳分層導(dǎo)致第二焊點異常所致功能失效。
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