隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,其芯片的特征尺寸變得越來越小,器件的結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,與之相應(yīng)的芯片工藝診斷、失效分析、器件微細(xì)加工也變得越來越困難,傳統(tǒng)的分析手段已經(jīng)難以滿足集成電路器件向深亞微米級、納米級技術(shù)發(fā)展的需要。
對于PCBA行業(yè)來說,元器件來料檢驗(yàn)就是整個(gè)品質(zhì)管理所要守好的第一道關(guān)卡,也是非常重要的環(huán)節(jié)。通過嚴(yán)控來料環(huán)節(jié),對最終的產(chǎn)品質(zhì)量有著重要的影響。各種器件的標(biāo)準(zhǔn)不一樣的,來料的時(shí)候要先看供應(yīng)商的規(guī)格書,其目的主要是防止因不良品的流出對公司的口碑和信譽(yù)造成不良影響,以及不良品的返修、返工、退貨的問題會給公司帶來經(jīng)濟(jì)損失。
金屬材料的失效形式及失效原因密切相關(guān),失效形式是材料失效過程的表觀特征,可以通過適當(dāng)?shù)姆绞竭M(jìn)行觀察。而失效原因是導(dǎo)致構(gòu)件失效的物理化學(xué)機(jī)制,需要通過失效過程調(diào)研研究及對失效件的宏觀、微觀分析來診斷和論證。
元器件的檢測是家電維修的一項(xiàng)基本功,如何準(zhǔn)確有效地檢測元器件的相關(guān)參數(shù),判斷元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否。
芯片其實(shí)是集成電路的聚集地。一個(gè)芯片擁有成千上萬的集成晶格組成。但具體的芯片集成度的高低與密集是由芯片的功能與作用而決定的。 IC芯片損壞這種現(xiàn)象也是存在的,但前提條件是給芯片供電電源太高,或電流過大,都會導(dǎo)致芯片內(nèi)部電路由于超過其極限工作電流電壓而導(dǎo)致芯片損壞。
現(xiàn)代5G、車聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)的飛速發(fā)展,信號的傳輸速度越來越快,集成電路芯片的供電電壓隨之越來越小。早期芯片的供電通常是5V和3.3V,而現(xiàn)在高速IC的供電電壓已經(jīng)到了2.5V、1.8V或1.5V,有的芯片的核電壓甚至到了1V。芯片的供電電壓越小,電壓波動的容忍度也變得越苛刻。芯片該怎么測量電壓呢?
現(xiàn)代工業(yè)科技的發(fā)展,機(jī)器視覺檢測系統(tǒng)正廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域,從醫(yī)學(xué)界圖像到遙感圖像,從工業(yè)生產(chǎn)檢測到文件處理,從毫微米技術(shù)到多媒體數(shù)據(jù)庫等,需要人類視覺的場合幾乎都需要機(jī)器視覺檢測系統(tǒng),特別在某些要求高或人類視覺無法感知的領(lǐng)域,如精確定量感知、危險(xiǎn)現(xiàn)場感知、不可見物體感知等,機(jī)器視覺檢測系統(tǒng)的作用就顯得尤為重要了。
X射線,俗稱X-RAY,具有穿透物體進(jìn)行透視的功能,因此常常用來進(jìn)行物體內(nèi)部缺陷的檢測。應(yīng)用范圍廣泛,其中電子半導(dǎo)體行業(yè)就需要借助X射線檢測設(shè)備的性能來進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的檢測。電子半導(dǎo)體經(jīng)常需要檢測SMT,電路板貼片。需要檢測的項(xiàng)目包括內(nèi)部氣泡,內(nèi)部夾渣,夾雜,裂紋,漏焊等。
由于現(xiàn)代社會科技化程度的不斷提高,電子器件的使用范圍不斷擴(kuò)大,電子器件在我們的生活和工作中隨處可見。由于電子器件應(yīng)用范圍的廣泛,電子器件的失效現(xiàn)象也是多種多樣,隨處可見。電應(yīng)力失效作為電子器件失效的重要方面,電氣器件電應(yīng)力失效的分析與研究,對電子器件的生產(chǎn)、使用和研發(fā)等具有深遠(yuǎn)的意義。
隨著各國針對電子電氣產(chǎn)品的安全和環(huán)保等特性建立的法律法規(guī)及對應(yīng)執(zhí)法日趨嚴(yán)格,如何在市場競爭中脫穎而出,將挑戰(zhàn)變?yōu)闄C(jī)遇,是當(dāng)下許多和電子電氣相關(guān)的企業(yè)共同面臨的一個(gè)課題。在電子電氣領(lǐng)域,有歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)RoHS,它作為電子電氣環(huán)保的第一步,是電子電氣產(chǎn)品進(jìn)入市場的基本準(zhǔn)入門檻之一。