PIC12F508-I/P 編程燒錄報(bào)告

日期：2023-07-31 11:30:54 瀏覽量：851 作者：創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

使用西爾特編程器 6100N 對(duì)芯片進(jìn)行了以下測(cè)試： -管腳連續(xù)性：芯片插入檢查，防止芯片意外損壞。 -擦除：將芯片擦除至空白狀態(tài)。這種操作只能在可以電擦除的芯片上執(zhí)行。 -編程：使用隨機(jī)數(shù)據(jù)對(duì)設(shè)備進(jìn)行編程。 -驗(yàn)證：該函數(shù)比較緩沖區(qū)的內(nèi)容與芯片的內(nèi)容。如果有任何差異，驗(yàn)證將停止，并將顯示失敗消息。 只有通過(guò)驗(yàn)證的芯片才能被識(shí)別為被正確編程的芯片。 -擦除：將芯片擦除至空白狀態(tài)。這種操作只能在可以電擦除的芯片上執(zhí)行。 -查空測(cè)試：確保設(shè)備上沒(méi)有程序