集成電路 TUSB4020BIPHPR 失效分析報(bào)告

日期：2024-11-04 16:36:45 瀏覽量：458 作者：創(chuàng)芯在線檢測(cè)中心

綜上測(cè)試分析，推測(cè)因ESD/EOS導(dǎo)致失效品下層電路損壞而引起漏電失效。