集成電路 NCV57101DWR2G 失效分析報(bào)告

日期：2024-11-04 16:34:16 瀏覽量：420 作者：創(chuàng)芯在線檢測中心

綜上分析推測失效品因EOS/ESD導(dǎo)致die內(nèi)部金屬層和絕緣層區(qū)域出現(xiàn)擊穿燒毀痕跡，從而引起短路失效。