電子元器件常用的篩選項(xiàng)目 了解一下!

日期:2022-11-11 14:35:08 瀏覽量:1167 標(biāo)簽: 可靠性

電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì),因此,應(yīng)該在電子元器件裝上整機(jī)、設(shè)備之前,就要設(shè)法把具有早期失效的元器件盡可能地加以排除,為此就要對元器件進(jìn)行篩選。那么電子元器件常見的篩選項(xiàng)目有哪些?接下來文中將簡單介紹電子元器件常用的篩選項(xiàng)目,一起來看看吧!

電子元器件常用的篩選項(xiàng)目 了解一下!

電子元器件常用的篩選項(xiàng)目

高溫貯存

電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化所引起,它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后,化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時暴露,予以剔除。

高溫篩選在半導(dǎo)體器件上被廣泛采用,它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機(jī)理的器件。通常在最高結(jié)溫下貯存24~168小時。

高溫篩選簡單易行,費(fèi)用不大,在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時間要適當(dāng)選擇,以免產(chǎn)生新的失效機(jī)理。

功率電老煉

篩選時,在熱電應(yīng)力的共同作用下,能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,它是可靠性篩選的一個重要項(xiàng)目。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時至168小時,有些產(chǎn)品,如集成電路,不能隨便改變條件,但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài),各種元器件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇,可以等于或稍高于額定條件,但不能引人新的失效機(jī)理。

功率老煉需要專門的試驗(yàn)設(shè)備,其費(fèi)用較高,故篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常為幾個小時,軍用高可靠產(chǎn)品可選擇 100、168小時,宇航級元器件可以選擇240小時甚至更長的周期。

溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件,在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力,能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是-55~+125℃,循環(huán)5~10次。

離心加速度

離心加速度試驗(yàn)又稱恒定應(yīng)力加速度試驗(yàn)。這項(xiàng)篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行,把利用高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上,可以剔除鍵合強(qiáng)度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件,通常選用20000 g 離心加速度持續(xù)試驗(yàn)一分鐘。

監(jiān)控振動和沖擊

在對產(chǎn)品進(jìn)行振動或沖擊試驗(yàn)的同時進(jìn)行電性能的監(jiān)測常被稱為監(jiān)控振動或監(jiān)控沖擊試驗(yàn)。這項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)苣M產(chǎn)品使用過程中的振動、沖擊環(huán)境,能有效地剔除瞬時短、斷路等機(jī)械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及整機(jī)中的虛焊等故障。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設(shè)備中,監(jiān)控振動和沖擊是一項(xiàng)重要的篩選項(xiàng)目。

典型的振動條件是: 頻率20~2000 Hz ,加速度2~20 g ,掃描1~2周期,在共振點(diǎn)附近要多停留一段時間。典型的沖擊篩選條件是1500^ -3000g ,沖擊3~5 次,這項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于元器件。

監(jiān)控振動和沖擊需要專門的試驗(yàn)設(shè)備,費(fèi)用昂貴,在民用電子產(chǎn)品中一般不采用。

除以上篩選項(xiàng)目外,常用的還有粗細(xì)檢漏、鏡檢、線性判別篩選、精密篩選等。

以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的電子元器件常用的篩選項(xiàng)目相關(guān)內(nèi)容,希望對您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個,實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測試項(xiàng)目。

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