X-ray檢測(cè)設(shè)備的機(jī)構(gòu)組成及運(yùn)用范圍有哪些?
日期:2022-11-30 15:25:28 瀏覽量:926 標(biāo)簽: X-Ray檢測(cè)
x-ray檢測(cè)技術(shù)是一種新型工藝方法和分析技術(shù),可以完成肉眼看不到的產(chǎn)品缺陷檢測(cè),并且實(shí)現(xiàn)了100%無損檢測(cè),也就是說,可以精準(zhǔn)檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部問題并且不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損壞。x-ray檢測(cè)憑借著自身獨(dú)特優(yōu)勢(shì),成功吸引了各工業(yè)產(chǎn)業(yè)的關(guān)注,被廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)線上。x-ray檢測(cè)設(shè)備是一種利用低能X光快速檢測(cè)被檢物體內(nèi)部質(zhì)量和異物,并通過計(jì)算機(jī)顯示被檢物體圖像的檢測(cè)方法。
x-ray檢測(cè)設(shè)備結(jié)構(gòu)組成
1、X射線光管
這是x-ray檢測(cè)機(jī)最核心的部件,由它產(chǎn)生X射線,穿透被檢物的內(nèi)部,檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部缺陷。
2、平板探測(cè)器
這個(gè)裝置可以捕捉到X射線管產(chǎn)生的X射線,并轉(zhuǎn)換成畫面,使用者可以非常直觀地看到被檢物存在的問題。
3、機(jī)械結(jié)構(gòu)
這一部分起到支撐設(shè)備的作用,并且決定了x-ray檢測(cè)儀的量程以及使用便利性。
4、軟件計(jì)算機(jī)操控系統(tǒng)
軟件操控是x-ray檢測(cè)機(jī)的核心,好的軟件操控系統(tǒng)具有增強(qiáng)成像圖、主動(dòng)判定缺陷等功能。
5、鉛板防護(hù)以及各種安全防護(hù)機(jī)制X射線是具有一定輻射風(fēng)險(xiǎn)的,因此x-ray檢測(cè)設(shè)備配備鉛板防護(hù),防止x-ray泄漏,同時(shí)設(shè)備具有三色指示燈、緊急急停等安全機(jī)制。
X-ray檢測(cè)技術(shù)的運(yùn)用范圍
哪些產(chǎn)品可以使用x-ray檢測(cè)?SMT,金屬鑄件、航空航天配件、半導(dǎo)體芯片等。對(duì)于電子元件,X-ray能夠?qū)C芯片,PCB印刷電路板,PCBA/SMT/BGA點(diǎn)焊、鋰電池、IGBT半導(dǎo)體,LED/LCD檢查類別。X ray可以對(duì)五金鑄件,焊縫,裂紋,汽車零部件,壓力容器,管道等進(jìn)行x ray的內(nèi)部檢測(cè)。
此外,x-ray塑料材料及部件、電子部件、LED檢查元件等內(nèi)部裂紋、異物不足,BGA,內(nèi)部位移分析,如空焊、虛焊等;BGA焊接缺陷、微電子系統(tǒng)及膠封元件、電纜、裝具、塑料件內(nèi)部狀況。
X-ray檢測(cè)產(chǎn)品多,檢驗(yàn)原理相同,以檢驗(yàn)空洞為例:焊接時(shí),BGA元件時(shí),不可避免地會(huì)產(chǎn)生間隙,這些缺陷是空的BGA點(diǎn)焊的影響會(huì)降低點(diǎn)焊的機(jī)械強(qiáng)度,影響點(diǎn)焊的穩(wěn)定性和使用壽命,因此有必要控制間隙的產(chǎn)生。
在點(diǎn)焊質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)中,間隙在質(zhì)量上起著決定性的作用,尤其是在大型點(diǎn)焊中。點(diǎn)焊面積可達(dá)25平方厘米,難以控制腔內(nèi)封閉氣體的變化。常見的結(jié)果是,焊料中間隙的大小和位置不同。在傳熱方面,間隙會(huì)導(dǎo)致模塊故障,甚至在正常運(yùn)行過程中損壞。因此,生產(chǎn)過程中絕對(duì)需要質(zhì)量控制。
X射線檢測(cè)具有高清圖像和分析缺陷的功能。還有足夠的放大率,使生產(chǎn)者能夠輕松查看詳細(xì)的產(chǎn)品缺陷,以滿足當(dāng)前和未來的需求。
以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的X-ray檢測(cè)設(shè)備的機(jī)構(gòu)組成及運(yùn)用范圍相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。