第三方檢測中心 電路板上的元器件檢測技巧

日期:2023-02-02 16:00:00 瀏覽量:826 標(biāo)簽: 第三方檢測 元器件檢測

電子設(shè)備的核心是電路板,而電路板則是由各種類型的電子元器件焊接組裝而成,如果設(shè)備發(fā)生故障或者出現(xiàn)短路,緣由大部分會(huì)出現(xiàn)在電子元器件失效或者損壞引起的。因此怎么正確檢測電子元器件就顯得尤其重要,這也是電子維修人員必須掌握的技能。下面是部分常見電子元器件檢測技巧,供大家參考。

第三方檢測中心 電路板上的元器件檢測技巧

1.測整流電橋各腳的極性

萬用表置R×1k擋,黑表筆接橋堆的任意引腳,紅表筆先后測其余三只腳,如果讀數(shù)均為無窮大,則黑表筆所接為 橋堆的輸出正極,如果讀數(shù)為4~10kΩ,則黑表筆所接引腳為橋堆的輸出負(fù)極,其余的兩引腳為橋堆的交流輸入 端。 

2.判斷晶振的好壞

先用萬用表(R×10k擋)測晶振兩端的電阻值,若為無窮大,說明晶振無短路或漏電;再將試電筆插入市電插孔內(nèi), 用手指捏住晶振的任一引腳,將另一引腳碰觸試電筆頂端的金屬部分,若試電筆氖泡發(fā)紅,說明晶振是好的;若 氖泡不亮,則說明晶振損壞。 

3.單向晶閘管檢測

可用萬用表的R×1k或R×100擋測量任意兩極之問的正、反向電阻,如果找到一對(duì)極的電阻為低阻值(100Ω~ lkΩ),則此時(shí)黑表筆所接的為控制極,紅表筆所接為陰極,另一個(gè)極為陽極。晶閘管共有3個(gè)PN結(jié),我們可以通過 測量PN結(jié)正、反向電阻的大小來判別它的好壞。測量控制極(G)與陰極[C)之間的電阻時(shí),如果正、反向電阻均為 零或無窮大,表明控制極短路或斷路;測量控制極(G)與陽極(A)之間的電阻時(shí),正、反向電阻讀數(shù)均應(yīng)很大; {測量陽極(A)與陰極(C)之間的電阻時(shí),正、反向電阻都應(yīng)很大。 

4.雙向晶閘管的極性識(shí)別

雙向晶閘管有主電極1、主電極2和控制極,如果用萬用表R×1k擋測量兩個(gè)主電極之間的電阻,讀數(shù)應(yīng)近似無窮 大,而控制極與任一個(gè)主電極之間的正、反向電阻讀數(shù)只有幾十歐。根據(jù)這一特性,我們很容易通過測量電極之 間電阻大小,識(shí)別出雙向晶閘管的控制極。而當(dāng)黑表筆接主電極1。紅表筆接控制極時(shí)所測得的正向電阻總是要比 反向電阻小一些,據(jù)此我們也很容易通過測量電阻大小來識(shí)別主電極1和主電極2。 

5.檢查發(fā)光數(shù)碼管的好壞

先將萬用表置R×10k或R×l00k擋,然后將紅表筆與數(shù)碼管(以共陰數(shù)碼管為例)的“地”引出端相連,黑表筆依次接數(shù) 碼管其他引出端,七段均應(yīng)分別發(fā)光,否則說明數(shù)碼管損壞。 

6.判別結(jié)型場效應(yīng)管的電極

將萬用表置于R×1k擋,用黑表筆接觸假定為柵極G的管腳,然后用紅表筆分別接觸另外兩個(gè)管腳,若阻值均比較 小(5~10 Ω),再將紅、黑表筆交換測量一次。如阻值均大(∞),說明都是反向電阻(PN結(jié)反向),屬N溝道管,且黑 表筆接觸的管腳為柵極G,并說明原先假定是正確的。若再次測量的阻值均很小,說明是正向電阻,屬于P溝道場 效應(yīng)管,黑表筆所接的也是柵極G。若不出現(xiàn)上述情況,可以調(diào)換紅、黑表筆,按上述方法進(jìn)行測試,直至判斷出 柵極為止。一般結(jié)型場效應(yīng)管的源極與漏極在制造時(shí)是對(duì)稱的,所以,當(dāng)柵極G確定以后,對(duì)于源極S、漏極D不 一定要判別,因?yàn)檫@兩個(gè)極可以互換使用。源極與漏極之間的電阻為幾千歐。 

7.三極管電極的判別

對(duì)于一只型號(hào)標(biāo)示不清或無標(biāo)志的三極管,要想分辨出它們的三個(gè)電極,也可用萬用表測試。先將萬用表量程開 關(guān)撥在R×100或R×1k電阻擋上。紅表筆任意接觸三極管的一個(gè)電極,黑表筆依次接觸另外兩個(gè)電極,分別測量它 們之間的電阻值,若測出均為幾百歐低電阻時(shí),則紅表筆接觸的電極為基極b,此管為PNP管。若測出均為幾十至 上百千歐的高電阻時(shí),則紅表筆接觸的電極也為基極b,此管為NPN管。 在判別出管型和基極b的基礎(chǔ)上,利用三極管正向電流放大系數(shù)比反向電流放大系數(shù)大的原理確定集電極。任意假 定一個(gè)電極為c極,另一個(gè)電極為e極。將萬用表量程開關(guān)撥在R×1k電阻擋上。對(duì)于:PNP管,令紅表筆接c極,黑 表筆接e極,再用手同時(shí)捏一下管子的b、c極,但不能使b、c兩極直接相碰,測出某一阻值。然后兩表筆對(duì)調(diào)進(jìn)行 第二次測量,將兩次測的電阻相比較,對(duì)于:PNP型管,阻值小的一次,紅表筆所接的電極為集電極。對(duì)于NPN型 管阻值小的一次,黑表筆所接的電極為集電極。

8.電位器的好壞判別

先測電位器的標(biāo)稱阻值。用萬用表的歐姆擋測“1”、“3”兩端(設(shè)“2”端為活動(dòng)觸點(diǎn)),其讀數(shù)應(yīng)為電位器的標(biāo)稱值, 如萬用表的指針不動(dòng)、阻值不動(dòng)或阻值相差很多,則表明該電位器已損壞。再檢查電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接 觸是否良好。用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”或“2”、“3”兩端,將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時(shí)針方向旋至接近“關(guān)”的位置, 此時(shí)電阻應(yīng)越小越好,再徐徐順時(shí)鐘旋轉(zhuǎn)軸柄,電阻應(yīng)逐漸增大,旋至極端位置時(shí),阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱 值。如在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動(dòng)過程中萬用表指針有跳動(dòng)瑚象,描踢活動(dòng)觸』點(diǎn)接觸不良。 9.測量大容量電容的漏電電阻 用500型萬用表置于R×10或R×100擋,待指針指向最大值時(shí),再立即改用R×1k擋測量,指針會(huì)在較短時(shí)間內(nèi)穩(wěn) 定,從而讀出漏電電阻阻值。 

10.判別紅外接收頭引腳

萬用表置R×1k擋,先假設(shè)接收頭的某腳為接地端,將其與黑表筆相接,用紅表筆分別測量另兩腳電阻,對(duì)比兩次 所測阻值(一般在4~7k Q范圍),電阻較小的一次其紅表筆所接為+5V電源引腳,另一阻值較大的則為信號(hào)引腳。 反之,若用紅表筆接已知地腳,黑表筆分別測已知電源腳及信號(hào)腳,則阻值都在15kΩ以上,阻值小的引腳為+5V 端,阻值偏大的引腳為信號(hào)端。如果測量結(jié)果符合上述阻值則可判斷該接收頭完好。 

11.判斷無符號(hào)電解電容極性

先將電容短路放電,再將兩引線做好A、B標(biāo)記,萬用表置R×100或R×1k擋,黑表筆接A引線,紅表筆接B引線,待 指針靜止不動(dòng)后讀數(shù),測完后短路放電;再將黑表筆接B引線,紅表筆接A引線,比較兩次讀數(shù),阻值較大的一次 黑表筆所接為正極,紅表筆所接為負(fù)極。 

12.測發(fā)光二極管

取一個(gè)容量大于100“F的電解電容器(容量越大,現(xiàn)象越明顯),先用萬用表R×100擋對(duì)其充電,黑表筆接電容正 極,紅表筆接負(fù)極,充電完畢后,黑表筆改接電容負(fù)極,將被測發(fā)光二極管接于紅表筆和電容正極之間。如果發(fā) 光二極管亮后逐漸熄滅,表明它是好的。此時(shí)紅表筆接的是發(fā)光二極管的負(fù)極,電容正極接的是發(fā)光二極管的正 極。如果發(fā)光二極管不亮,將其兩端對(duì)調(diào)重新接上測試,還不亮,表明發(fā)光二極管已損壞。 

13.光電耦合器檢測

萬用表選用電阻R×100擋,不得選R×10k擋,以防電池電壓過高擊穿發(fā)光二極管。紅、黑表筆接輸入端,測正、 反向電阻,正常時(shí)正向電阻為數(shù)十歐姆,反向電阻幾千歐至幾十千歐。若正、反向電阻相近,表明發(fā)光二極管已 損壞。萬用表選電阻R×1擋。紅、黑表筆接輸出端,測正、反向電阻,正常時(shí)均接近于∞,否則受光管損壞。萬 用表選電阻R×10擋,紅、黑表筆分別接輸入、輸出端測發(fā)光管與受光管之間的絕緣電阻(有條件應(yīng)用兆歐表測其 絕緣電阻,此時(shí)兆歐表輸出額定電壓應(yīng)略低于被測光電耦合器所允許的耐壓值),發(fā)光管與受光管問絕緣電阻正常 應(yīng)為∞。 

14.光敏電阻的檢測

將萬用表撥到R×1kΩ擋,把光敏電阻的受光面與入射光線保持垂直,于是在萬用表上直接測得的電阻就是亮阻。 再把光敏電阻置于完全黑暗的場所,這時(shí)萬用表所測出的電阻就是暗阻。如果亮阻為幾千歐至幾十干歐,暗阻為 幾至幾十兆歐,說明光敏電阻是好的。 

15.激光二極管損壞判別 

拆下激光二極管,測量其阻值,正常情況下反向阻值應(yīng)為無窮大,正向阻值在20kΩ~40kΩ。如果所測的正向阻值 已超過50kΩ,說明激光二極管性能已下降;如果其正向阻值已超過90kΩ,說明該管已損壞,不能再使用了。

以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的電路板上的元器件檢測技巧相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電,我們將竭誠為您服務(wù)!

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來襲!

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價(jià),至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場,臺(tái)廠國巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過39萬個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測定試驗(yàn)??煽啃詼y定試驗(yàn)是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则?yàn)證試驗(yàn)是用來驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測試。這篇文章就是對(duì)測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情