濕敏元器件及芯片的存儲環(huán)境,應(yīng)保持在溫度25℃左右,相對濕度(RH)<40%,如果存儲和作業(yè)的環(huán)境溫濕度高于標準范圍就需要管控濕敏器件及芯片的折封管制。還有一些縫隙可能肉眼無法觀察,但當(dāng)集成電路芯片放置于環(huán)境中時,環(huán)境中的水分就會通過滲透的作用滲透至芯片內(nèi)部。而造成芯片的受潮。為增進大家對芯片烘烤的認識,以下是創(chuàng)芯檢測整理的相關(guān)內(nèi)容,希望能給您帶來參考與幫助。
當(dāng)IC、BGA等集成電路芯片受潮以后,其芯片內(nèi)部的水分就會在通過回流焊等熱工序時,由于溫度的急劇上升而汽化。造成體積急劇增大而造成芯片的膨脹、變形。嚴重的,會直接形成爆米花現(xiàn)象,芯片直接報廢。稍微次點的,就會造成芯片功能缺失等現(xiàn)狀。而輕微的,則會在內(nèi)部產(chǎn)生開裂、分層、剝離、微裂紋等不良。這些不良,則會導(dǎo)致芯片的壽命短、效果不佳等隱患。嚴重影響企業(yè)聲譽。
不同的濕敏級別有不同的烘烤條件。一般為采用125度烘。如擔(dān)心氧化及老化,或是料帶容易高溫變形。則可采用90度+5%RH或40度+5%RH的條件烘烤。不建議使用充氮烤箱,充氮烤箱的用氮成本太高。如果不烘烤突然加溫就容易引起芯片內(nèi)部起泡,分層損壞,烘烤目的就是防止這個原因。
芯片烘烤的步驟與設(shè)定溫度:
1. 首先打開烤箱電源,對烤箱進行預(yù)熱,預(yù)熱溫度技術(shù)參數(shù)設(shè)定為80℃(一般情況下都有80度,特殊情況下可以使用100度).
2. 當(dāng)烤箱溫度預(yù)熱至80℃時, 撕開包裝芯片的塑料袋. 將待烘烤的貼片IC芯片,BGA芯片裝入烤箱,烤箱裝滿后,關(guān)上烤箱門, 進行烘烤并開始計時。
3. 按標準要求設(shè)定烤箱溫度80℃±10℃,烘烤時間2H-4H.
4. 烘烤過程中必須有人員巡回檢查烤箱運作狀況,特別是溫度、抽風(fēng)設(shè)備及指示燈.
5. 烘烤至規(guī)定時間后,打開烤箱,檢查貼片IC芯片,BGA芯片是否烤干,確認OK 后,將芯片取出烤箱.
6. 烘烤完畢后,關(guān)閉烤箱電源開關(guān)!
芯片烘烤的注意事項:
1. 烤箱必須先預(yù)熱至規(guī)定溫度才可將芯片裝入進行烘烤。
2. 正常情況下,必須烘烤至規(guī)定時間才可出烤箱。
3. 烘烤時不可損傷芯片。
4. 烤箱內(nèi)不可放入紙板、紙皮等易燃物品!烘烤時間和烘烤溫度須管制并記錄。
對于需要烘烤的元器件,應(yīng)按照警示標簽上的規(guī)范進行烘烤。標準以內(nèi)的烘烤時間已可很好地對芯片進行除濕。而有條件的工廠,也可盡量采用溫度較低的烘烤條件進行芯片烘烤。如此,才是真正保證芯片能在不受額外影響的情況下干燥芯片。即拆即用是防止芯片受潮最好的辦法。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電,我們將竭誠為您服務(wù)!