冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

日期:2023-08-22 15:30:00 瀏覽量:557 標(biāo)簽: 冷熱沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種常用的材料測試設(shè)備,用于評估材料在溫度變化條件下的耐久性能。本文將圍繞這個問題進(jìn)行詳細(xì)介紹,探討冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)參數(shù)及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)參數(shù)包括以下幾個方面:

(1)溫度范圍:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)該能夠提供廣泛的溫度范圍,以滿足不同材料的測試需求。一般來說,溫度范圍應(yīng)該在-70℃至+150℃之間。

(2)溫度控制精度:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的溫度控制精度應(yīng)該達(dá)到較高水平,以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。一般來說,溫度控制精度應(yīng)該在±1℃以內(nèi)。

(3)試樣尺寸:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)應(yīng)該能夠容納不同尺寸的試樣,以滿足不同材料的測試需求。

(4)試驗(yàn)方式:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的試驗(yàn)方式包括單向沖擊、雙向沖擊和環(huán)形沖擊等,應(yīng)該根據(jù)不同材料的測試需求來選擇合適的試驗(yàn)方式。

(5)試驗(yàn)時間:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的試驗(yàn)時間應(yīng)該根據(jù)不同材料的測試需求來確定。一般來說,試驗(yàn)時間應(yīng)該在幾十分鐘至數(shù)小時之間。

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

以下是一些常見的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

1. GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 第22節(jié):溫度變化試驗(yàn)(冷熱沖擊試驗(yàn))》

該標(biāo)準(zhǔn)是中國電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會頒布的,適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗(yàn)。

2. IEC 60068-2-14 Ed. 3.0 b:2009-07《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》

該標(biāo)準(zhǔn)由國際電工委員會頒布,適用于電氣、電子、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗(yàn)。

3. MIL-STD-202G Method 107G《Test Method Standard Electronic and Electrical Component Parts》

該標(biāo)準(zhǔn)由美國國防部頒布,適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗(yàn)。

4. JIS C 60068-2-14《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》

該標(biāo)準(zhǔn)由日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會頒布,適用于電子、電氣、機(jī)械等產(chǎn)品的冷熱沖擊試驗(yàn)。

以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)內(nèi)容,希望對您有所幫助。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機(jī)構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電,我們將竭誠為您服務(wù)!

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