電子元器件檢驗(yàn)和篩選方法
日期：2024-03-20 13:51:19 瀏覽量：519 標(biāo)簽: 電子元器件檢測(cè)
電子元器件檢測(cè)能夠保證元器件正常運(yùn)作，是一項(xiàng)十分重要的基本工作，元器件種類繁多，工作原理與技術(shù)特征各異，因此應(yīng)選擇不同的檢測(cè)方法檢測(cè)。在進(jìn)行元器件的篩選時(shí)，應(yīng)合理根據(jù)元器件的各項(xiàng)性能進(jìn)行篩選，合理的選擇，提高產(chǎn)品的可靠性。
一、外觀檢查
這是簡單可行的檢驗(yàn)方法，能發(fā)現(xiàn)一些電子元器件的早期缺陷和采購過程中的損壞。在對(duì)電子元器件識(shí)別與檢測(cè)進(jìn)行時(shí)應(yīng)按照如下操作進(jìn)行：外觀檢查是可對(duì)元器件進(jìn)行簡單的檢驗(yàn)，能夠發(fā)現(xiàn)元器件早期的一些缺陷和采購過程之中產(chǎn)生的磨損。電子元器件的外觀檢查和識(shí)別主要需要檢查元器件的型號(hào)、規(guī)格、廠商、產(chǎn)地等，產(chǎn)品的外觀是否有例如凹陷、劃傷等缺陷，以及產(chǎn)品的型號(hào)、規(guī)格等各種電子產(chǎn)品中的元器件均有自身特點(diǎn)，檢查時(shí)要按各元器件的具體要求確定檢查內(nèi)容。
_20240320134226_450.jpg "電子元器件檢驗(yàn)和篩選方法")
二、電性能檢測(cè)
為了確保電子產(chǎn)品能夠穩(wěn)定可靠的運(yùn)作，元器件的篩選需要測(cè)試其各項(xiàng)電性能，按照元器件使用的要求，對(duì)其施加一種或者多種模擬應(yīng)力試驗(yàn)，讓其暴露出缺陷，檢測(cè)出其中失效產(chǎn)品。
1、元器件效能曲線
電子元器件的效能曲線，即浴盆曲線，反映了元器件在使用中的失效規(guī)律。一般在元器件剛投入使用時(shí)，會(huì)因元器件制造過程中原材料、設(shè)備、工藝等缺陷導(dǎo)致失效率較高。元器件使用一段時(shí)間后，元器件的失效率較低，即偶然失效期。過了正常使用期后，元器件進(jìn)入老化失效期，即損耗失效期，該元器件時(shí)間工作壽命結(jié)束在老化失效期，元器件的失效率增高。
2、電子元器件的篩選和老化
元器件的老化的篩選，應(yīng)人為制造元器件早期工作條件，使元器件處在模擬的工作伏態(tài)下，把早期失效的產(chǎn)品在使用前剔除，提高產(chǎn)品的可靠性。在生產(chǎn)過程中，篩選老化包括高溫存儲(chǔ)老化，高低溫循環(huán)老化，高低溫沖擊老化和高溫功率老化等。隨著元器件生產(chǎn)水平的提高，要按不同產(chǎn)品要求，國家和企業(yè)標(biāo)佳選擇不同的老化篩選要求和工藝。對(duì)于可靠性要求極高的電子產(chǎn)品或設(shè)備中使用的典型元器件，需100%進(jìn)行篩選，對(duì)要求不高的民品中使用的元器件，要采用抽樣檢測(cè)方式；對(duì)一般的電子產(chǎn)品研制和制造中使用的元器件，應(yīng)采用自然老化和簡易電老化方式。
3、參數(shù)性能檢測(cè)
經(jīng)外觀檢查及老化的電子元器件，要進(jìn)行性能指標(biāo)的測(cè)試，淘汰已失效的元器件。檢測(cè)前，應(yīng)對(duì)電子元器件檢測(cè)中常見問題及解決方案有一個(gè)全面的了解。要求有多種通用或?qū)ｉT測(cè)試儀器，一般性的電子設(shè)計(jì)或電子設(shè)備中使用的元器件，應(yīng)運(yùn)用萬用表等普通儀表檢測(cè)。在使用萬用表進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，要注意萬用表的使用要求，正確地使用。
