高低溫試驗(yàn)的測(cè)試條件和評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)

日期:2024-03-28 16:37:12 瀏覽量:626 標(biāo)簽: 高低溫試驗(yàn)

高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度 。

高低溫測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

高低溫檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):

高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364, MIL-STD-810F等。

低溫試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。

交變濕熱試驗(yàn):高低溫交變濕熱試驗(yàn)是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試項(xiàng)目,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

高低溫試驗(yàn)的測(cè)試條件和評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4 。

溫度沖擊試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。

參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等。

快速溫變?cè)囼?yàn)介紹:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過(guò)程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán),溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍、停留時(shí)間以及循環(huán)數(shù)來(lái)決定的。

高低溫試驗(yàn)條件:

一、高溫試驗(yàn):

不帶電貯存:70℃,保持48h,恢復(fù)2h,測(cè)試設(shè)備是否工作正常;帶電工作:55℃,保持工作狀態(tài),觀察設(shè)備是否正常工作;依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GJB 150.3A-2009、GBT2423.2等。

二、低溫試驗(yàn):

不帶電貯存:-40℃,保持24h,恢復(fù)2h。測(cè)試設(shè)備是否工作正常;帶電工作:-20℃,保持工作狀態(tài),觀察設(shè)備是否正常工作;參考標(biāo)準(zhǔn):GJB 150.4A-2009、GBT2423.1等。

三、濕熱試驗(yàn):

本試驗(yàn)應(yīng)按GB/T2423.4試驗(yàn)Db進(jìn)行。除性能檢測(cè)外,不得對(duì)被試裝置通電。

溫度:+55℃和+25℃;周期數(shù):2(呼吸效應(yīng));時(shí)間:2×24h.

高低溫試驗(yàn)方法:

先將箱溫調(diào)至25℃±3℃,并保持此值,相對(duì)濕度調(diào)至45%~75%進(jìn)行2h~6h穩(wěn)定溫度處理。在最后1h內(nèi),將箱內(nèi)相對(duì)濕度提高至不低于95%,溫度仍保持25℃±3℃。

穩(wěn)定階段之后循環(huán)開始,使箱溫在2.5h~3h內(nèi)由25C±3℃連續(xù)上升到55℃±2℃,這期間除最后15 min內(nèi)相對(duì)濕度不低于90%外,升溫階段相對(duì)濕度都不應(yīng)低于95%,以使試品表面產(chǎn)生凝露,但不得在大型試驗(yàn)樣品上產(chǎn)生過(guò)量凝露。

然后在溫度為55℃±2℃的高溫高濕環(huán)境下保持到從循環(huán)開始算起12h±0.5h止。這一階段的相對(duì)濕度,除最初和最后的15min內(nèi)不低于90%外,均應(yīng)為(93±3)%。

然后在3h~6h內(nèi),將箱溫由55℃±2℃降至25℃±3℃。最初1.5h的降溫速率為10℃/h,這期間的相對(duì)濕度除最初的15min內(nèi)不低于90%外,其他時(shí)間均不低于95%。

降溫之后,溫度保持25℃±3℃,相對(duì)濕度不低于95%,從循環(huán)開始算起24h為一周期。

以上是創(chuàng)芯檢測(cè)小編整理的高低溫試驗(yàn)相關(guān)內(nèi)容,希望對(duì)您有所幫助。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì),建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè),實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上,可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

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