電子產品的跌落測試方法和試驗條件

日期:2024-05-24 11:20:07 瀏覽量:908 標簽: 跌落測試

跌落測試主要用來模擬產品在搬運期間可能受到的自由跌落,考察產品抗意外沖擊的能力。跌落高度通常根據(jù)產品重量以及可能掉落的機率作為參考標準,落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應以產品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

一、跌落測試有哪些要求?

跌落試驗不僅對物品跌落的高度有要求,而且在測試時往往還需要對物品的角、棱、面進行跌落測試。在針對角、棱、面進行跌落測試時,物品跌落的角度也有相關標準要求:

1、角跌落時,試驗樣品上規(guī)定面與沖擊臺面之間的夾角誤差不大于±5°或此夾角的10%(以較大數(shù)值為準),使試驗樣品的重力線通過被跌落的角;

2、棱跌落時,使跌落的棱與水平面之間的夾角最大不超過2°,試驗樣品上規(guī)定面與沖擊臺面夾角的誤差不大于±5°或此夾角的10%(以較大數(shù)值為準),使試驗樣品的重力線通過被跌落的棱;

3、面跌落時,使試驗樣品的跌落面與水平面之間的夾角最大不超過2°;

4、無論任何狀態(tài)和形狀的試驗樣品,都應使試驗樣品的重力線通過被跌落的點、線、面。

電子產品的跌落測試方法和試驗條件

二、電子產品跌落測試方法及試驗條件

自由跌落

目的:

確定產品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應性。自由跌落主要用于非包裝的試驗樣品,以及在運輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗樣品。

條件:

試驗表面:試驗表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面。必要時,有關規(guī)范可以規(guī)定其他表面。

跌落高度:是指試驗樣品在跌落前懸掛著的時候,試驗表面與離它最近的樣品部位之間的高度。

釋放方法:釋放試驗樣品的方法應使試驗樣品從懸掛著的位置自由跌落。釋放時,要使干擾最小。

嚴酷等級:應從下列數(shù)值中選取跌落高度:(25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。帶括號的數(shù)值是優(yōu)選值。

除非標準另有規(guī)定,試驗樣品應該從每個規(guī)定的位置跌落兩次。試驗樣品需按標準要求進行外觀檢測、電性能和機械性能檢測。

三、跌落試驗的跌落高度要求

針對跌落實驗國家有專門的標準,跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體,跌落的高度是根據(jù)產品重量而定。

1、包裝貨物重量0.45kg~9.54kg,跌落高度為76.2cm;

2、包裝貨物重量9.55kg~18.63kg,跌落高度為60.96cm;

3、包裝貨物重量18.64kg~27.72kg,跌落高度為45.72cm;

4、包裝貨物重量17.473g~45.45kg,跌落高度為30.48cm;

注:重型設備不宜經受較高的嚴酷等級。

不同標準對相同重量的產品的跌落高度也不相同。如手持型產品(如手機、平板等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對手持型產品(如手機)則建議落下高度為150cm。

微信掃碼關注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內都有哪些值得關注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內存市場翻轉,漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網站數(shù)據(jù),各類內存條、內存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調高容MLCC供貨緊張,即將對其調漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關查獲大批侵權電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關總署微信平臺“海關發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經品牌權利人確認,深圳海關所屬福田海關此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產品進行可靠性調查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產品進行可靠性測試的重要性及目的

產品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產品的可靠性。而且這是一項重要的質量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數(shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設計與操作中的不當?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設計主要是版圖設計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產勞動率。PCB的質量非常關鍵,要檢查PCB的質量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情