元器件二次篩選的試驗方法和項目
日期：2024-06-18 11:19:56 瀏覽量：802 標(biāo)簽: 元器件
電子元器件二次篩選是檢驗元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段。二次篩選可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產(chǎn)品，提高器件整批使用可靠性。篩選試驗的有效性為確定篩選試驗方法和篩選項目，可以依據(jù)以往產(chǎn)品篩選試驗數(shù)據(jù)的積累。通過分析這些數(shù)據(jù)，確定那些能夠有效篩選出早期失效品的試驗項目。而那些篩選淘汰率極低或無法將有缺陷產(chǎn)品排除的試驗項目則不應(yīng)列入篩選試驗中。
評估篩選方案的有效性可通過篩選效果和篩選淘汰率等指標(biāo)來衡量。篩選的有效性主要取決于合理選擇篩選項目和應(yīng)力條件，要獲得理想的篩選效果并不容易。對于產(chǎn)品的篩選要求，一般根據(jù)其質(zhì)量與可靠性保證等級所規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行篩選。
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篩選試驗應(yīng)力的確定原則篩選試驗應(yīng)力的選擇應(yīng)符合以下原則：首先，篩選應(yīng)力類型應(yīng)選擇能夠激發(fā)早期失效的應(yīng)力，這需要根據(jù)不同產(chǎn)品的失效機理和所掌握的信息來確定；其次，篩選應(yīng)力應(yīng)致力于盡早暴露產(chǎn)品各種隱患和缺陷；同時，篩選應(yīng)力不應(yīng)使正常產(chǎn)品發(fā)生失效；此外，篩選應(yīng)力去除后不應(yīng)對產(chǎn)品留下殘余應(yīng)力或影響其使用壽命；最后，篩選應(yīng)力試驗持續(xù)時間應(yīng)足夠長，以充分暴露早期失效。
篩選試驗方法常規(guī)篩選方法主要分為常規(guī)檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選、壽命篩選和電測試篩選等幾種。
1. 常規(guī)檢查篩選：包括鏡檢、紅外線篩選和X射線篩選等。紅外線篩選可用于剔除具有嚴(yán)重?zé)崛毕莸钠骷琗射線篩選用于檢查管殼內(nèi)是否存在外來物以及檢查裝片、鍵合或封裝工序的缺陷和芯片裂紋。
2. 密封性篩選：包括氣泡法、氦質(zhì)譜儀法、放射性氣體和示蹤檢漏法等。這些方法用于剔除管殼和密封工藝中存在的缺陷，如裂紋、微小漏孔、氣孔以及封裝對位欠佳等。
3. 環(huán)境應(yīng)力篩選：包括振動加速度、沖擊加速度、離心加速度、溫度循環(huán)和熱沖擊等。這些方法通過施加特定的環(huán)境應(yīng)力來篩選出早期失效品。
4. 壽命篩選：包括高溫貯存、低溫貯存、老練篩選、精密篩選和線性判別等。這些方法通過對元器件進(jìn)行一段時間的貯存或特定條件下的老化測試，以篩選出存在質(zhì)量問題的產(chǎn)品。
5. 電測試篩選：可作為對晶體管等器件的補充手段。
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