元器件二次篩選的試驗(yàn)方法和項(xiàng)目
日期：2024-06-18 11:19:56 瀏覽量：596 標(biāo)簽: 元器件
電子元器件二次篩選是檢驗(yàn)元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段。二次篩選可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產(chǎn)品，提高器件整批使用可靠性。篩選試驗(yàn)的有效性為確定篩選試驗(yàn)方法和篩選項(xiàng)目，可以依據(jù)以往產(chǎn)品篩選試驗(yàn)數(shù)據(jù)的積累。通過(guò)分析這些數(shù)據(jù)，確定那些能夠有效篩選出早期失效品的試驗(yàn)項(xiàng)目。而那些篩選淘汰率極低或無(wú)法將有缺陷產(chǎn)品排除的試驗(yàn)項(xiàng)目則不應(yīng)列入篩選試驗(yàn)中。
評(píng)估篩選方案的有效性可通過(guò)篩選效果和篩選淘汰率等指標(biāo)來(lái)衡量。篩選的有效性主要取決于合理選擇篩選項(xiàng)目和應(yīng)力條件，要獲得理想的篩選效果并不容易。對(duì)于產(chǎn)品的篩選要求，一般根據(jù)其質(zhì)量與可靠性保證等級(jí)所規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行篩選。
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篩選試驗(yàn)應(yīng)力的確定原則篩選試驗(yàn)應(yīng)力的選擇應(yīng)符合以下原則：首先，篩選應(yīng)力類型應(yīng)選擇能夠激發(fā)早期失效的應(yīng)力，這需要根據(jù)不同產(chǎn)品的失效機(jī)理和所掌握的信息來(lái)確定；其次，篩選應(yīng)力應(yīng)致力于盡早暴露產(chǎn)品各種隱患和缺陷；同時(shí)，篩選應(yīng)力不應(yīng)使正常產(chǎn)品發(fā)生失效；此外，篩選應(yīng)力去除后不應(yīng)對(duì)產(chǎn)品留下殘余應(yīng)力或影響其使用壽命；最后，篩選應(yīng)力試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間應(yīng)足夠長(zhǎng)，以充分暴露早期失效。
篩選試驗(yàn)方法常規(guī)篩選方法主要分為常規(guī)檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選、壽命篩選和電測(cè)試篩選等幾種。
1. 常規(guī)檢查篩選：包括鏡檢、紅外線篩選和X射線篩選等。紅外線篩選可用于剔除具有嚴(yán)重?zé)崛毕莸钠骷琗射線篩選用于檢查管殼內(nèi)是否存在外來(lái)物以及檢查裝片、鍵合或封裝工序的缺陷和芯片裂紋。
2. 密封性篩選：包括氣泡法、氦質(zhì)譜儀法、放射性氣體和示蹤檢漏法等。這些方法用于剔除管殼和密封工藝中存在的缺陷，如裂紋、微小漏孔、氣孔以及封裝對(duì)位欠佳等。
3. 環(huán)境應(yīng)力篩選：包括振動(dòng)加速度、沖擊加速度、離心加速度、溫度循環(huán)和熱沖擊等。這些方法通過(guò)施加特定的環(huán)境應(yīng)力來(lái)篩選出早期失效品。
4. 壽命篩選：包括高溫貯存、低溫貯存、老練篩選、精密篩選和線性判別等。這些方法通過(guò)對(duì)元器件進(jìn)行一段時(shí)間的貯存或特定條件下的老化測(cè)試，以篩選出存在質(zhì)量問(wèn)題的產(chǎn)品。
5. 電測(cè)試篩選：可作為對(duì)晶體管等器件的補(bǔ)充手段。
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