電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大全

日期:2021-07-26 16:10:00 瀏覽量:2608 標(biāo)簽: 環(huán)境試驗(yàn) 可靠性測(cè)試

1、低溫試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007

2、高溫試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007

3、恒定濕熱試驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012,IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001

4、交變濕熱試驗(yàn)

:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005

5、振動(dòng)試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 GB/T 2423.58-2008,IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)    GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995

6、溫度變化試驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009 

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009

8、自由跌落試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995,IEC 60068-2-32:1990

9、機(jī)械沖擊試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995,IEC 60068-2-27:1987

10、碰撞試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ,IEC 60068-2-29:1987

電工電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大全

11、傾跌與翻倒試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982

12、砂塵試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994

13、鹽霧試驗(yàn)

人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006 

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB/T 2423.17-2008,IEC60068-2-11:1981

14、溫度沖擊

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009

15、外殼防護(hù)試驗(yàn)

外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼) GB 4208-2008,IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000

16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983

17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)  GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983

18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))

綜合:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 GB/T 2423.59-2008    

19、(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)

綜合GB/T 2423.102-2008

20、可靠性試驗(yàn)

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.7-1986,IEC 60605-7:1978

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T 5080.6-1996  ,IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.5-1985  ,IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布)   GB/T 5080.4-1985,IEC 60605-4:1978

可靠性試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994

可靠性試驗(yàn) 第1部分:試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T 5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001

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