隨著人工智能技術(shù)不斷升級(jí)，產(chǎn)品的外觀缺陷檢測(cè)也可以通過人工智能技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)，由于傳統(tǒng)人工檢測(cè)存在檢測(cè)效率慢，檢測(cè)精確度不高等缺點(diǎn)，而通過表面外觀缺陷視覺檢測(cè)能夠更好的取代傳統(tǒng)檢測(cè)方法。在每個(gè)節(jié)點(diǎn)上，芯片的特征尺寸越來(lái)越小，而缺陷更難發(fā)現(xiàn)。缺陷是芯片中不希望有的偏差，會(huì)影響良率和性能。機(jī)器視覺檢測(cè)所具有的非接觸性、連續(xù)性、經(jīng)濟(jì)性、靈活性等優(yōu)點(diǎn)，使人們有了更好的選擇，人工檢測(cè)正逐漸被機(jī)器視覺檢測(cè)所替代將機(jī)器視覺檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測(cè)，主要是通過對(duì)實(shí)時(shí)抓取的圖像采用模式匹配進(jìn)行定位，分析處理圖像并得到圖像的各項(xiàng)參數(shù)，與預(yù)先設(shè)置好的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較計(jì)算進(jìn)而判斷圖像合格與否。
按照不同應(yīng)用場(chǎng)景來(lái)分類，芯片又可以分為民用級(jí)（消費(fèi)級(jí)），工業(yè)級(jí)，汽車級(jí)，軍工級(jí)芯片，它們主要區(qū)別還是在工作溫范圍。軍工級(jí)芯片由于要面臨復(fù)雜的戰(zhàn)爭(zhēng)環(huán)境，其使用的電子器件要足夠的耐操，像導(dǎo)彈、衛(wèi)星、坦克、航母里面的電子元器件，任何一個(gè)部分拿出來(lái)都是最先進(jìn)的，領(lǐng)先工業(yè)級(jí)10年，領(lǐng)先商業(yè)級(jí)20年左右，最貴最精密度的都在軍工級(jí)中體現(xiàn)出來(lái)，其工作溫度在－55℃～＋150℃；汽車級(jí)芯片工作溫度范圍－40℃～＋125℃；工業(yè)級(jí)芯片比汽車級(jí)檔次稍微低一點(diǎn)，價(jià)格次之，精密度次之，工作溫度范圍在－40℃～＋85℃；民用／消費(fèi)級(jí)芯片就是市場(chǎng)上交易的那種，電腦、手機(jī)，你能看到的基本上都是商用的。
_20210924142338_256.jpg "談?wù)勑酒庥^缺陷檢測(cè) 專業(yè)視覺檢測(cè)公司")
工業(yè)視覺主要有四個(gè)應(yīng)用類別：測(cè)量、定位、檢測(cè)、識(shí)別。近年來(lái)，隨著人工智能等技術(shù)的成熟，工業(yè)視覺得以迅速發(fā)展，可以有效提升良品率和生產(chǎn)效率、降低人力成本、減少質(zhì)檢員肉眼傷害。其中工業(yè)視覺檢測(cè)又分為了表面質(zhì)量的檢測(cè)和視覺定位（雙目、多目定位），主要應(yīng)用于機(jī)械零部件的劃痕，臟污、亮斑、缺角和凸起等質(zhì)量的檢查。
芯片外觀缺陷主要包括的內(nèi)容:
1、封裝體缺陷；
2、印刷缺陷；
3、管腳缺陷。
芯片外觀缺陷檢測(cè)的主要檢測(cè)內(nèi)容：
1、封裝體檢測(cè)的內(nèi)容包括：刮痕、污跡、破損、未灌滿、外溢等。
2、印刷檢測(cè)的內(nèi)容包括：錯(cuò)字、偏移、漏印、多印、模糊、傾斜、位移、斷字、雙層印、無(wú)字模等。
3、管腳檢測(cè)的內(nèi)容包括：管腳缺失、管腳破損、管腳間距、管腳寬度、管腳彎曲度、管腳跨距、管腳長(zhǎng)度差異、管腳站立高、管腳共面度、管腳傾斜等。
以上就是"芯片外觀缺陷檢測(cè)"的相關(guān)內(nèi)容介紹了，在現(xiàn)在的工業(yè)市場(chǎng)上，芯片的品種非常多，并且在不斷增加。每種芯片產(chǎn)量少則幾千件，多則上萬(wàn)件。外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可以根據(jù)鏡頭光源來(lái)獲取產(chǎn)品的表面圖像，針對(duì)產(chǎn)品圖像進(jìn)行精準(zhǔn)定位、分辨、缺陷分類等一系列操作，及時(shí)處理并解決存在的問題。
