ic芯片檢測方法:通過外觀怎么鑒別元器件真?zhèn)?

日期:2021-09-27 11:14:00 瀏覽量:2941 標簽: IC真假鑒別 芯片檢測 外觀檢測 元器件真?zhèn)舞b別

隨著新技術(shù)的出現(xiàn),加上高利潤和低風(fēng)險,IC芯片假冒產(chǎn)品變得更加復(fù)雜和泛濫。在元器件短缺時,為保證元器件供貨不中斷,許多公司有可能還會尋找未經(jīng)授權(quán)的非正規(guī)來源,但是卻加劇已經(jīng)存在的元器件假冒問題。如今假冒電子元器件泛濫,已成為元器件行業(yè)的一大痛點。通過外觀該如何分辨購買的元器件是否為假冒呢?怎么鑒別元器件真?zhèn)?

首先了解一下,這些劣質(zhì)芯片如何產(chǎn)生呢?一個晶圓上有成百上千個芯片,晶圓生產(chǎn)好后要經(jīng)過測試并把不好的標記上;通過測試的晶圓被切割并封裝,封裝好后就是我們看到的帶管腳的芯片了,在封裝階段標記為不好的芯片同樣會被丟棄。未通過測試的晶片由買裸片的廠家回收,自己切割、邦定,但標記為不好的芯片也會被丟棄。通常正規(guī)的測試流程費時、成本高,所以有些晶圓廠會把未經(jīng)過測試的晶圓賣給需要裸片的廠家,并由后者自己測試。但后者通常沒有好的測試設(shè)備,同時為省錢減少測試項目,致使一些本來在半導(dǎo)體廠不能通過的芯片用在了最終的產(chǎn)品中,造成產(chǎn)品質(zhì)量的不穩(wěn)定。

ic芯片檢測方法:通過外觀怎么鑒別元器件真?zhèn)?

外觀檢測通常使用光學(xué)顯微鏡,檢查芯片的共面性、表面的印字、器件主體和管腳等,是否符合特定要求。根據(jù)IC外觀檢測的要求,從標簽,盤,編帶,印字顏色,還有芯片的厚度檢查,一般經(jīng)驗比較豐富的,應(yīng)該容易看出來。

關(guān)鍵點:絲印、主體、管腳

絲印要求:清晰、完整、正確、位置統(tǒng)一、字體規(guī)則、logo規(guī)范、模號及產(chǎn)地凹印、PIN1明顯

主體要求:尺寸規(guī)范、裂痕、殘缺、刮傷、溢膠、變形、漏底材等符合標準

管腳要求:變形、漏銅、多錫、缺失、尺寸異常、變色等

要知道翻新的目的是將使用過的集成電路進行翻新處理,或是未使用的將低質(zhì)量等級的集成電路改為高質(zhì)量等級的集成電路,或是將DateCode更改為較新的日期。由于翻新要掩蓋IC原來的標識和使用特征,因此這種類型的假冒翻新器件比較容易識別,使用立體顯微鏡進行外部目檢、金相顯微鏡進行塑封材質(zhì)檢查可以發(fā)現(xiàn)明顯的翻新特征。假冒翻新器件的泛濫不僅擾亂了正常的市場秩序,而且給電子產(chǎn)品、整機系統(tǒng)的質(zhì)量和可靠性帶來了嚴重的危害:影響產(chǎn)品的研制生產(chǎn)周期、大大增加生產(chǎn)及維護成本、降低了產(chǎn)品的可靠性等。甚至有一些假冒翻新器件甚至已滲透到美軍采購鏈。

總結(jié),假冒翻新識別較有效且能識別絕大多數(shù)假冒翻新器件的方法主要有外部目檢、X射線檢查和Decap后內(nèi)部目檢。現(xiàn)如今,電子元器件造假成風(fēng),電容、電阻、電感、mos管、單片機等都有不少假貨在市面上流通。除了盡可能的找一些正規(guī)代理購買之外,工程師和采購商們也要擦亮眼睛,學(xué)會識別假貨!

創(chuàng)芯檢測始終秉持"專業(yè),權(quán)威,高效,創(chuàng)新"的宗旨,重金購置國際先進的檢測設(shè)備,測試嚴格遵照國際檢測標準及方法,現(xiàn)已取得CNAS認證并獲國際互認資質(zhì),客戶群涵蓋海內(nèi)外多個國家和地區(qū),是國內(nèi)素質(zhì)過硬、知名度高的專業(yè)IC檢測機構(gòu)。我公司擁有數(shù)十人規(guī)模的專業(yè)工程師及行業(yè)精英團隊,建有標準化實驗室3個,實驗室面積1000平米以上,可承接電子元器件測試驗證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗以及編帶等多種測試項目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測,我們將竭誠為您服務(wù)。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場翻轉(zhuǎn),漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內(nèi)存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對其調(diào)漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關(guān)總署微信平臺“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認,深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項重要的質(zhì)量指標,只是定性描述就顯得不夠,必須使之數(shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計主要是版圖設(shè)計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產(chǎn)勞動率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情