電子元器件老化性能測(cè)試的項(xiàng)目類型及目的

日期:2021-10-14 11:57:00 瀏覽量:2809 標(biāo)簽: 元器件測(cè)試 電子元器件檢測(cè)

在電子產(chǎn)品在加工過程中,由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用,無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷,例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用,但在使用中缺陷會(huì)很快暴露出來(lái),產(chǎn)品不能正常工作。潛在缺陷則無(wú)法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn),而是運(yùn)用老化的方法來(lái)剔除。如果老化方法效果不好,則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效(或故障)的形式表現(xiàn)出來(lái),從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升,維修成本增加。

老化(Burn in)老化也稱“老練”,是指在一定的環(huán)境溫度下、較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)對(duì)元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力,而環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS:Environment Stress Screen )則不僅包括高溫應(yīng)力,還包括其他很多應(yīng)力,例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等,通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來(lái)加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程,促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露,從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

電子元器件老化性能測(cè)試的項(xiàng)目類型及目的

那么為什么要進(jìn)行老化測(cè)試?又有什么意義?電子產(chǎn)品,不管是元件,部件,整機(jī),設(shè)備,都要進(jìn)行老化和測(cè)試。老化和測(cè)試不是一個(gè)概念.先老化后測(cè)試.電子產(chǎn)品(所有產(chǎn)品都是這樣)通過生產(chǎn)制造后,形成了完整的產(chǎn)品。已經(jīng)可以發(fā)揮使用價(jià)值了,但使用以后發(fā)現(xiàn)會(huì)有這樣那樣的毛病,又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開始的幾小時(shí)至幾十小時(shí)之內(nèi),后來(lái)干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測(cè)試,仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),這個(gè)過程由產(chǎn)品制造者來(lái)完成.通過再測(cè)試。把有問題的產(chǎn)品留在工廠,沒問題的產(chǎn)品給用戶,以保證買給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題較少的.這就是老化測(cè)試的意義。

主要的老化試驗(yàn)項(xiàng)目是:

電子元器件老化

1、光老化測(cè)試:

光老化是戶外使用材料受到的主要老化破壞,對(duì)于室內(nèi)使用材料,也會(huì)受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優(yōu)異,碳弧燈最早發(fā)明使用,建立的測(cè)量體系較早、很多日本標(biāo)準(zhǔn)和纖維材料方面的標(biāo)準(zhǔn)都使用碳弧燈,但由于碳弧燈價(jià)格較高、性能不夠穩(wěn)定(燈管使用90小時(shí)后需要更換),已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢(shì),價(jià)格也相對(duì)較低,適合多數(shù)產(chǎn)品的使用。紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光,能較好地加速模擬自然光中紫外線對(duì)材料的破壞作用,加速因子比氙燈要高,光源穩(wěn)定性也比氙燈要好,但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞(尤其是UVB燈)。QLH-010

主要應(yīng)用范圍:戶外、室內(nèi)使用的橡塑、涂料、油墨產(chǎn)品,通訊、電器等設(shè)備外殼,汽車件、摩托車配件。

2、熱老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等

熱老化箱具備程序功能,可以通過程序設(shè)定溫度變化,適合各種產(chǎn)品熱老化的需要呢。

主要應(yīng)用范圍:各種產(chǎn)品耐熱老化測(cè)試,如PCB板、電器中絕緣橡膠、長(zhǎng)壽命需求產(chǎn)品(如斜拉索大橋用外套料,使用年限要20年以上)等,考察材料隨著使用時(shí)間的推移,產(chǎn)品性能的變化狀況,考察產(chǎn)品使用的可靠性。

3、濕熱老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn):通用標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 15905、GB/T 2573等。

另外還可以根據(jù)不同的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定濕度、溫度的變化曲線,適合各種復(fù)雜的濕熱老化測(cè)試。產(chǎn)品使用過程中,容易受到溫度和濕度的雙重影響,對(duì)于一些對(duì)水敏感的材料,如PET、PBT等,需要進(jìn)行濕熱老化測(cè)試,以評(píng)定是否適合在潮濕的環(huán)境下長(zhǎng)期使用。

4、鹽霧老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn): GB/T 10125、GB/T 12000\、ASTM D117 、JISZ2371等標(biāo)準(zhǔn)

進(jìn)行中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速鹽霧測(cè)試。主要用于模擬大氣中的溶解于水蒸汽中的氯化鈉對(duì)涂層、鍍層等保護(hù)程以及金屬地材的腐蝕作用,尤其是沿海地區(qū)及內(nèi)陸鹽湖周邊地區(qū),空氣中鹽分較高,產(chǎn)品很容易受到鹽霧腐蝕。主要適用產(chǎn)品:各類涂料,如建筑外墻涂料、船用涂料、貨柜用涂料等,各類鍍層。

5、臭氧老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 7762、GB/T 24134、GB/T 13642、HG/T 2869、JIS K 6259、ASTM D 1149。

主要考察橡膠耐臭氧性能(橡膠中含有大量雙鍵,容易受到臭氧攻擊,尤其是在動(dòng)態(tài)使用或者是拉伸時(shí),臭氧對(duì)橡膠的破壞更加嚴(yán)重),也可以考察TPU、EPDM等新型彈性體的抗臭氧性能。。

6、高低溫循環(huán)

主要參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423,JG/T 25建筑涂料涂層耐凍融循環(huán)性測(cè)定法等標(biāo)準(zhǔn),可以按照不同產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中,關(guān)于高低溫循環(huán)、凍融循環(huán)的相關(guān)測(cè)試方法來(lái)開展試驗(yàn)。主要用于建筑涂料、特殊環(huán)境使用設(shè)備等檢測(cè)。

電子元器件老化測(cè)試注意事項(xiàng)

為了使老化取得滿意的效果,應(yīng)注意下面幾點(diǎn):

(1)老化設(shè)備應(yīng)有良好的防自激振蕩措施。

(2)給器件施加電壓時(shí),要從零開始緩慢地增加,去電壓時(shí)也要緩慢地減小,否則電源電壓的突變所產(chǎn)生的瞬間脈沖可能會(huì)損傷器件。老化后要在標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范規(guī)定的時(shí)間內(nèi)及時(shí)測(cè)量,否則某些老化時(shí)超差的參數(shù)會(huì)恢復(fù)到原來(lái)的數(shù)值。

(3)為保證晶體管能在最高結(jié)溫下老化,應(yīng)準(zhǔn)確測(cè)量晶體管熱阻。

對(duì)于集成電路來(lái)說,由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制,自身的結(jié)溫溫升很少,如不提高環(huán)境溫度很難達(dá)到有效地老化所需的溫度。因此,常溫靜態(tài)功率老化只在部分集成電路(線性電路和數(shù)字電路)中應(yīng)用。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測(cè)帶來(lái)的“電子元器件老化性能測(cè)試”相關(guān)內(nèi)容,希望能對(duì)大家有所幫助,我們將于后期帶來(lái)更多精彩內(nèi)容。公司檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測(cè),我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng),被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來(lái),馬來(lái)西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下,馬來(lái)西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來(lái)襲!

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價(jià),至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng),臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)??煽啃詼y(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情