利用X-ray無(wú)損檢測(cè)技術(shù)提高鑄造件質(zhì)量

日期:2021-12-31 15:40:00 瀏覽量:1400 標(biāo)簽: 無(wú)損檢測(cè) X-Ray檢測(cè)

隨著社會(huì)和法律法規(guī)對(duì)環(huán)境保護(hù)和節(jié)能的要求越來(lái)越嚴(yán)格,對(duì)鋁鑄件的質(zhì)量要求也提高了。因此,鋁鑄件的檢驗(yàn)越來(lái)越受到制造商的重視。 鋁鑄件因其精確的尺寸,光滑的表面以及在加工后直接使用而廣泛用于許多行業(yè),包括汽車(chē)行業(yè),儀器行業(yè),農(nóng)業(yè)機(jī)械,機(jī)床行業(yè)等。 

鋁鑄件檢驗(yàn)質(zhì)量要求

對(duì)于合格的鋁鑄件,鑄件的非機(jī)加工表面應(yīng)光滑,筆直,并且鑄件痕跡應(yīng)清晰,清洗后澆注冒口應(yīng)與鑄件表面齊平。并且不應(yīng)有裂紋,冷障,水泡,氣孔,爐渣孔,收縮和爐渣夾雜物等缺陷。

利用X-ray無(wú)損檢測(cè)技術(shù)提高鑄造件質(zhì)量

鋁制組件壓鉚的裂紋、壓縮開(kāi)裂問(wèn)題,鋁件總成在鉚接以及壓合時(shí),都出現(xiàn)過(guò)裂紋問(wèn)題(鉚接TOX點(diǎn)開(kāi)裂以及壓合R角開(kāi)裂)。針對(duì)壓合開(kāi)裂潛在的影響因素做了對(duì)應(yīng)的檢測(cè)、測(cè)量和分析。根據(jù)鋁鑄件的不同用途和要求,鋁鑄件的檢驗(yàn)需要采用不同的檢驗(yàn)方法。主要檢測(cè)方法如下:

1.外觀檢查

鋁鑄件的外觀質(zhì)量影響后續(xù)加工技術(shù),后續(xù)加工的消耗,并且還影響鑄件的性能。鋁鑄件的表面質(zhì)量包括鑄件的表面缺陷,尺寸精度,表面粗糙度等,可以按照規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)用肉眼檢查。

2.壓力檢測(cè) 

對(duì)不允許泄漏空氣,水或油的鋁鑄件執(zhí)行壓力檢測(cè)。在鑄件的外壁上涂肥皂水。如果有水泡,將出現(xiàn)肥皂泡。但是這種檢測(cè)的準(zhǔn)確性尚待討論。

3. X射線檢測(cè)

對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的鋁鑄件,檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否符合設(shè)計(jì)要求。有時(shí)需要將鑄件切開(kāi)。這會(huì)損壞鋁鑄件。無(wú)損檢測(cè)設(shè)備用于檢測(cè)X射線檢測(cè)設(shè)備。 X射線檢測(cè)可用于檢測(cè)鋁鑄件是否有水泡和氣孔,檢測(cè)精度高。 

其實(shí),X射線和自然光在本質(zhì)上是沒(méi)有區(qū)別的,它們都屬于電磁波,但是X射線量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光,可以穿透可見(jiàn)光無(wú)法穿透的物體,可與物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用。鋁鑄件的質(zhì)量影響后續(xù)加工技術(shù),后續(xù)加工的消耗,并且還影響鑄件的性能。通過(guò)X射線檢測(cè)設(shè)備,可以在不損壞鋁鑄件的情況下準(zhǔn)確地檢查鋁鑄件內(nèi)部 的不可見(jiàn)缺陷,并及時(shí)進(jìn)行糾正和改進(jìn),從而更好地保證鋁鑄件的質(zhì)量,質(zhì)量制成品才會(huì)更好。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價(jià)函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過(guò)去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價(jià)延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無(wú)意外,缺貨漲價(jià)仍是主旋律。下面就來(lái)梳理一下過(guò)去的一個(gè)月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點(diǎn)。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來(lái)西亞管控延長(zhǎng),被動(dòng)元件又懸了?

自五月以來(lái),馬來(lái)西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴(yán)峻形勢(shì)之下,馬來(lái)西亞政府于6月1日開(kāi)始執(zhí)行為期半個(gè)月的全面行動(dòng)管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢(shì)。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場(chǎng)翻轉(zhuǎn),漲價(jià)來(lái)襲!

據(jù)媒體近日?qǐng)?bào)道,內(nèi)存正在重回漲價(jià)模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達(dá)30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類(lèi)內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開(kāi)始漲價(jià),至今仍沒(méi)有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動(dòng)元件漲價(jià)啟動(dòng),MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺(tái)媒近日?qǐng)?bào)道,MLCC兩大原廠三星電機(jī)和TDK近期對(duì)一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強(qiáng)調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對(duì)其調(diào)漲報(bào)價(jià)。在芯片電阻市場(chǎng),臺(tái)廠國(guó)巨正式宣布從三月起漲價(jià)15-25%。緊接著,華新科也對(duì)代理商發(fā)出漲價(jià)通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計(jì)超過(guò)39萬(wàn)個(gè)

據(jù)海關(guān)總署微信平臺(tái)“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認(rèn),深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運(yùn)出口渠道查獲的一批共計(jì)391500個(gè)印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測(cè)試:常規(guī)的可靠性項(xiàng)目及類(lèi)型介紹

可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn)??煽啃詼y(cè)定試驗(yàn)是為測(cè)定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn),通常用來(lái)提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则?yàn)證試驗(yàn)是用來(lái)驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn),一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時(shí)間或條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。可通過(guò)可靠度、失效率還有平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項(xiàng)重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進(jìn)行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測(cè)試的詳細(xì)步驟

失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見(jiàn)的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開(kāi)放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過(guò)芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測(cè)試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情