失效分析報(bào)告包括哪些內(nèi)容?電子產(chǎn)品檢測公司
日期：2022-04-21 15:02:51 瀏覽量：1590 標(biāo)簽: 電子產(chǎn)品檢測 失效分析
電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ)，元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。電子產(chǎn)品失效通俗來講，狹義上的失效指的是機(jī)電產(chǎn)品喪失功能的現(xiàn)象，而失效分析則是分析診斷失效的模式、原因和機(jī)理，研究采取補(bǔ)救預(yù)測和預(yù)防措施的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)，同時(shí)，與之相關(guān)的理論、技術(shù)和方法相交叉的綜合學(xué)科則稱之為失效學(xué)。
_20220421150211_421.jpg "失效分析報(bào)告包括哪些內(nèi)容?電子產(chǎn)品檢測公司")
一、失效的分類
我們常說的失效從失效模式和失效機(jī)理上來說，一般按下述方法進(jìn)行分類：
1、斷裂失效：斷裂失效常分為韌性斷裂和脆性斷裂兩類，而脆性斷裂又分為低溫脆性斷裂、輻射脆化斷裂、氫損傷（氫脆）、應(yīng)力腐蝕、液態(tài)金屬脆化、液體侵蝕損傷、高溫應(yīng)力斷裂（即蠕變斷裂）、疲勞斷裂這幾種。
2、非斷裂失效：基本分為磨損失效、腐蝕失效、變形失效幾種，磨損失效一般包含磨粒磨損、粘著磨損兩種，腐蝕失效分為氧化腐蝕和電化學(xué)腐蝕兩種，變形時(shí)效分為彈性變形和塑性變形失效兩種。
3、復(fù)合失效機(jī)理，顧名思義就是多種失效機(jī)理綜合作用而成導(dǎo)致的失效，例如低周疲勞導(dǎo)致的斷裂即是韌性斷裂和疲勞斷裂兩種機(jī)理復(fù)合作用而成的，再如機(jī)件受高溫應(yīng)力+電化學(xué)腐蝕復(fù)合作用下，會(huì)出現(xiàn)燒蝕熱蝕的失效現(xiàn)象等等。
二、失效的發(fā)展過程
產(chǎn)品失效的發(fā)展過程一般遵循“浴盆曲線”狀，可以將其分為三個(gè)時(shí)期：
1、早期失效期，即產(chǎn)品使用初期，由于設(shè)計(jì)缺陷或者制造缺陷而導(dǎo)致明顯的失效。
2、偶然失效期，在理想狀況下，產(chǎn)品是不應(yīng)出現(xiàn)“失效”現(xiàn)象的，而由于環(huán)境、操作方法、管理不善等原因?qū)е碌臐撛谌毕?，?huì)在某一時(shí)期導(dǎo)致偶然的失效，該階段稱為偶然失效期。
3、磨損失效期，該階段是產(chǎn)品在出現(xiàn)失效萌芽之后的曲線增長到最終失效期，，又稱為損耗失效。
產(chǎn)品按照其失效發(fā)展過程分類對(duì)于可靠性工程來說是十分有用的。
三、失效分析的實(shí)施步驟
失效分析的原則是先進(jìn)行非破壞性分析，后進(jìn)行破壞性分析；先外部分析，后內(nèi)部（解剖）分析；先調(diào)查了解與失效有關(guān)的情況（應(yīng)用條件、失效現(xiàn)象等），后分析失效器件。
1、保護(hù)失效現(xiàn)場；基本原則就是保護(hù)現(xiàn)場的一切證據(jù)維護(hù)其原狀。
2、偵察失效現(xiàn)場，收集背景材料；現(xiàn)場偵察并記錄的項(xiàng)目包括但不限于以下內(nèi)容：
（1）失效部件及碎片的尺寸大小、形狀和散落方位；
（2）周圍散落的金屬屑、粉末、氧化皮、潤滑殘留物及一切可疑物質(zhì)等；
（3）失效部件表面特征；
（4）設(shè)備或部件的特征；
（5）周圍環(huán)境條件。
3、聽取操作人員及佐證人員描述失效現(xiàn)象：
（1）制定失效分析計(jì)劃；
（2）執(zhí)行失效分析計(jì)劃；
（3）綜合評(píng)定失效分析結(jié)果；
（4）研究補(bǔ)救措施和預(yù)防措施；
（5）起草、評(píng)審并最終提出失效分析報(bào)告。
以上便是此次創(chuàng)芯檢測帶來的“電子產(chǎn)品失效分析報(bào)告”相關(guān)內(nèi)容，希望能對(duì)大家有所幫助，我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測服務(wù)范圍涵蓋：電子元器件測試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測，我們將竭誠為您服務(wù)。
