無損探傷簡(jiǎn)單來講就是在檢查機(jī)器內(nèi)部利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)（如合格與否、剩余壽命等），這是一種對(duì)材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測(cè)手段。下面主要介紹常見的無損探傷方法匯總。
1.滲透探傷PT
滲透探傷主要適用于檢查表面開口缺陷的無損檢測(cè)。諸如裂紋、折疊、氣孔、冷隔和疏松等，它不受材料組織結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的限制，它不僅可以檢查金屬材料，還可以檢查塑料、陶瓷及玻璃等非多孔性的材料。
滲透顯示直觀，容易判斷，操作方法具有快速、簡(jiǎn)便的特點(diǎn)，通過操作即可檢出任何方向的缺陷，但它也有一定的局限性，只能檢出表面開口性缺陷，對(duì)被污染物堵塞或機(jī)械處理（拋光和研磨等）后開口被封閉的缺陷都不能有效地檢出，它也不適用于檢查多孔性疏松材料制成的工件和表面粗糙的工件，其顯像劑最佳觀察時(shí)間是8-10分鐘，有效保留時(shí)間是：30-45分鐘。且在一般情況下不能與磁粉檢測(cè)同時(shí)使用，其磁粉施加的磁懸液會(huì)堵塞缺陷的開口。特殊要求情況下，可先做滲透探傷，后做磁粉探傷，但其檢出率會(huì)很低，沒有實(shí)際意義。
2.磁粉探傷MT
磁粉探傷主要用于碳鋼、合金結(jié)構(gòu)鋼、沉淀硬化鋼和電工鋼等的表面和近表面的缺陷檢測(cè)，由于不連續(xù)的磁痕堆積于被檢工件的表面上，所以能直觀地顯示不連續(xù)的形狀、位置和尺寸，并大致確定其性質(zhì)，磁粉檢測(cè)的靈敏度也較高，可檢出缺陷寬度可達(dá)0.1μm，對(duì)于埋藏深達(dá)幾毫米，甚至十幾毫米的某些不連續(xù)也可探測(cè)出來。
磁粉檢測(cè)時(shí)，幾乎不受被檢測(cè)件的大小、和形狀限制，并采用各種磁化技術(shù)檢驗(yàn)各個(gè)部位的缺陷，它的工藝相對(duì)簡(jiǎn)單而且檢驗(yàn)速度快、成本低。但它不能檢驗(yàn)非鐵磁性的金屬，如鋁、鎂、銅，也不能檢查非金屬材料，如橡膠、塑料、玻璃、陶瓷等。它也不能檢查奧氏體不銹鋼，它主要用于船體焊縫、柴油機(jī)零部件、鋼鍛件、鋼鑄件的檢測(cè)。
磁粉探傷只適用于鐵磁性材料；只能檢測(cè)表面與近表面缺陷；對(duì)裂紋有很強(qiáng)的檢測(cè)能力。
3.超聲波探傷UT
超聲波探傷在工業(yè)上應(yīng)用非常廣泛，主要應(yīng)用于各種尺寸的鍛件、軋制件、焊縫、鑄件等，適用于黑色金屬、有色金屬和非金屬材料和零部件。
超聲波適于檢測(cè)平面狀缺陷，如裂紋、折疊、夾層、未焊透、未融合等。只要超聲波波束與裂紋平面垂直，就可以獲得很高的缺陷回波。而對(duì)于氣孔夾渣類球狀缺陷不夠靈敏較射線偏低。
超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)：a.適用于金屬、非金屬和復(fù)合材料等的無損檢測(cè)；b.穿透能力強(qiáng)，可對(duì)較大厚度范圍內(nèi)的試件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)。c.缺陷定位比較準(zhǔn)確；d.對(duì)面積型缺陷的檢出率較高；e.靈敏度高，可檢測(cè)試件內(nèi)部尺寸很小的缺陷；f.檢測(cè)成本低、速度快，設(shè)備輕便，對(duì)人體及環(huán)境無害，現(xiàn)場(chǎng)使用較方便。
超聲波檢測(cè)主要用于內(nèi)部的缺陷的檢測(cè)，對(duì)于面積型缺陷，如未融合、裂紋、分層有較高的檢出率。但其定性、定量困難、復(fù)雜形狀檢測(cè)困難，需耦合劑和參考標(biāo)準(zhǔn)，且被檢測(cè)的表面光潔度要求較高，在船舶上主要用于母材厚度為6-100mm的鐵素體鋼全焊透焊縫的檢測(cè)。
4.射線探傷RT
X射線探傷是應(yīng)用最早、最普遍的無損檢測(cè)方法之一。
它的原理是依據(jù)X射線穿透物體后其衰減程度不同因而在底片上產(chǎn)生不同黑度的影像來識(shí)別物體中的缺陷，缺陷影像直觀，易于對(duì)缺陷定位、定性和定量。適用于金屬和非金屬等各種材料。
射線探傷與超聲波檢測(cè)相比，兩者均能檢測(cè)材料或工件的內(nèi)部缺陷，而它主要檢測(cè)體積型的缺陷，即工件成型后未經(jīng)過壓力加工變形，如鑄件、焊縫、粉末冶金件等，廣泛用于焊縫和鑄件的檢測(cè)，尤其是焊縫的檢驗(yàn)。射線照相法用得最多，也最為有效。它能有效檢測(cè)出氣孔、夾渣、疏松等缺陷，但對(duì)分層、裂紋又難以檢測(cè)。且在射線方向上要存在厚度差或密度差。它能在底片上直觀地觀察到缺陷的性質(zhì)、形狀大小、位置等，便于對(duì)缺陷定位、定量、定性?？梢蚤L(zhǎng)久地保存底片，作為檢測(cè)結(jié)果記錄的可靠依據(jù)。但它對(duì)面狀缺陷檢測(cè)能力較差，尤其對(duì)工件中最危險(xiǎn)的缺陷—裂紋，如果缺陷的取向與射線方向相對(duì)角度不適當(dāng)時(shí)，檢出率會(huì)明顯下降，乃至完全無法檢出。此外，費(fèi)用也較高，操作工序也較為復(fù)雜。射線檢測(cè)必須采取相應(yīng)的防護(hù)措施。
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