RoHS認(rèn)證是《電氣、電子設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》(The restriction of the use of certain hazardous substances in electrical and electronic equipment)的英文縮寫,其規(guī)定,在電氣、電子產(chǎn)品中如含有鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴二苯醚和多溴聯(lián)苯等有害重金屬的,歐盟從2006年7月1日將禁止進(jìn)口。根據(jù)《中華人民共和國產(chǎn)品質(zhì)量法》、《中華人民共和國認(rèn)證認(rèn)可條例》和《電子信息產(chǎn)品污染控制管理辦法》,國家認(rèn)證
并購小年看點(diǎn)多!盤點(diǎn)2021年半導(dǎo)體并購幾宗“最” 2021年落下帷幕,總的來說去年是個(gè)半導(dǎo)體并購小年,集邦咨詢統(tǒng)計(jì)指出,去年并沒有出現(xiàn)100億美元以上規(guī)模的并購,主要的幾起并購都在50-60億美元上下浮動(dòng)。 但小年并不意味著貧乏。在2016年前后的并購大潮退去之后,半導(dǎo)體企業(yè)的并購主要是補(bǔ)全業(yè)務(wù)板塊,布局新興市場?,F(xiàn)在就來盤點(diǎn)一下,去年那些并購當(dāng)?shù)闷鹨粋€(gè)“最”字,除此以外還有哪些未完成的并購值得關(guān)注。 最宏大:ADI收購美信 2021年8月26日,ADI正式將美信整并。此交易在20
高低溫交變濕熱試驗(yàn)是指產(chǎn)品在模擬的高溫低濕、低溫高濕等不同環(huán)境的測試條件下,貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。交變濕熱試驗(yàn)中的高溫試驗(yàn)是針對(duì)高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用產(chǎn)品的情形,目的是檢驗(yàn)軍民用設(shè)備在高溫環(huán)境中儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。
因?yàn)槠囯妱?dòng)化、智能化和網(wǎng)聯(lián)化的來襲,全球性的汽車芯片缺貨,以及國內(nèi)汽車芯片產(chǎn)業(yè)的興起。汽車芯片產(chǎn)業(yè)獲得了前所未有的關(guān)注度。汽車電子產(chǎn)品的價(jià)格普遍比較貴,其中的主要原因之一就是使用了車規(guī)級(jí)的電子元件,但什么樣的電子元件才是車規(guī)級(jí)的器件呢?
電子元器件屬于工業(yè)設(shè)備,大多數(shù)設(shè)備在日常生活中看不到,因?yàn)樗渴鹪谑謾C(jī)、電腦、智能設(shè)備中,基本上有成千上萬的元件,不同的設(shè)備攜帶不同的功能,除了電阻電容,還包含高技術(shù)射頻設(shè)備。電子元器件的種類繁多,全類電子元器件涉及的型號(hào)數(shù)量上億,市場對(duì)電子元器件的需求量也非常大,因?yàn)殡娮釉骷呀?jīng)成為工業(yè)領(lǐng)域中不可缺少的部分。當(dāng)我們?cè)诓少彶淮_定元器件質(zhì)量真?zhèn)蔚臅r(shí)候,可以把買到的電子元器件直接拿去檢測,國內(nèi)有專門的檢測機(jī)構(gòu),可以幫助檢驗(yàn)器件質(zhì)量。
跌落試驗(yàn)通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力分為包裝跌落和裸機(jī)跌落。裸機(jī)跌落主要考量產(chǎn)品在正常使用過程中抗意外跌落沖擊的能力。包裝跌落也可以反映包裝件在受到垂直跌落時(shí)候的對(duì)產(chǎn)品的保護(hù)能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。
近年來,科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步使生產(chǎn)中使用的x-ray檢測設(shè)備更加嚴(yán)格。曲軸,氣缸,發(fā)動(dòng)機(jī)葉片等工業(yè)零件也使用鑄件,鑄件的生產(chǎn)非常容易產(chǎn)生氣泡等問題,這是傳統(tǒng)技術(shù)無法解決的。但是x-ray檢測設(shè)備無損檢測技術(shù)在對(duì)各種鑄件檢測得到非常準(zhǔn)確的結(jié)果,應(yīng)用范圍廣泛,且技術(shù)成熟。
關(guān)于發(fā)布和實(shí)施CNAS-GL015:2022《判定規(guī)則和符合性聲明指南》的通知
一般來說為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后,設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時(shí)間,主要目的是盡可能在短時(shí)間內(nèi),正確評(píng)估產(chǎn)品可靠性。
常用的可靠性設(shè)計(jì)原則和方法有元器件選擇和控制、熱設(shè)計(jì)、簡化設(shè)計(jì)、降額設(shè)計(jì)、冗余和容錯(cuò)設(shè)計(jì)、環(huán)境防護(hù)設(shè)計(jì)、健壯設(shè)計(jì)和人為因素設(shè)計(jì)等。除了元器件選擇和控制、熱設(shè)計(jì)主要用于電子產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)外,其余的設(shè)計(jì)原則及方法均適用于電子產(chǎn)品和機(jī)械產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)。