隨著新技術(shù)的出現(xiàn),加上高利潤和低風(fēng)險,IC芯片假冒產(chǎn)品變得更加復(fù)雜和泛濫。在元器件短缺時,為保證元器件供貨不中斷,許多公司有可能還會尋找未經(jīng)授權(quán)的非正規(guī)來源,但是卻加劇已經(jīng)存在的元器件假冒問題。如今假冒電子元器件泛濫,已成為元器件行業(yè)的一大痛點。通過外觀該如何分辨購買的元器件是否為假冒呢?怎么鑒別元器件真?zhèn)?
可靠性試驗,是指通過試驗測定和驗證產(chǎn)品的可靠性。研究在有限的樣本、時間和使用費用下,找出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)??煽啃栽囼炇菫榱私狻⒃u價、分析和提高產(chǎn)品的可靠性而進行的各種試驗的總稱。為了測定、驗證或提高產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗,它是產(chǎn)品可靠性工作的一個重要環(huán)節(jié)。
芯片開蓋檢測的目的是暴露封裝內(nèi)部器件芯片,以便進一步進行芯片表面的電探測和形貌觀察。按封裝材料及形式來分,電子元器件的封裝種類包括玻璃封裝(二極管)、金屬殼封裝、陶瓷封裝、塑料瘋裝、倒裝芯片封裝、3D疊層封裝等,引線鍵合絲有鋁絲、金絲、銅絲。
單片機燒寫,又稱為單片機程序下載、燒錄等,本質(zhì)上是單片機和PC機按照芯片廠家規(guī)定的編程協(xié)議,通過芯片廠家規(guī)定的接口,把已編譯好的程序傳輸?shù)絾纹瑱C,單片機把數(shù)據(jù)存儲到自身存儲器中的過程。在嵌入式系統(tǒng)中,常需要將代碼或數(shù)據(jù)燒寫至MCU片內(nèi)Flash或者片外的Nor Flash、Nand Flash、SPI Flash等。單片機的燒寫原理是什么?哪種方式對于產(chǎn)品來說是最好的呢?下面來介紹幾種芯片燒寫方法。
作為現(xiàn)代電子信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的源動力,芯片已廣泛滲透及融合到國民經(jīng)濟和社會發(fā)展每個領(lǐng)域,是數(shù)字經(jīng)濟、信息消費乃至國家長遠發(fā)展的重要支撐。BGA是電子元件必不可少的一環(huán),但在BGA封裝焊接中,經(jīng)常會出現(xiàn)空洞現(xiàn)象,空洞現(xiàn)象的產(chǎn)生主要是助焊劑中有機物經(jīng)過高溫裂解產(chǎn)生氣泡,導(dǎo)致氣體被包圍在合金粉末內(nèi),形成空洞,空洞的產(chǎn)生會在一定程度上影響產(chǎn)品的使用效果,如焊接空洞在后期使用過程中容易給電子元件造成接觸不良,影響使用壽命。今天我們就來介紹一下BGA焊點缺陷或失效的幾個常用的檢測方法,幫助大家深入理解做
程序燒錄就是把原程序經(jīng)編譯處理后加載到計算機中,讓計算機執(zhí)行你編寫的程序,例如單片機程序燒錄的時候是加載.hex文件,儲存在單片機中,開機就能實現(xiàn)所寫的程序了,簡單的說就是讓微型計算機開機能執(zhí)行你的程序的過程就是程序燒錄。程序燒錄是把想要的數(shù)據(jù)通過刻錄機等工具刻制到光盤、燒錄卡(GBA)等介質(zhì)中。市面上存在著DVD-R/DVD-RW以及DVD+R/DVD+RW等不同格式的光盤刻錄機,并用它來刻錄,永久保存數(shù)據(jù),能大大方便了數(shù)據(jù)的存儲。光盤刻錄支持的極限速度20X。
在消費電子領(lǐng)域?qū)λ玫脑骷馁|(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)愈發(fā)嚴(yán)格,半導(dǎo)體器件的廣泛使用,其壽命經(jīng)過性能退化,最終導(dǎo)致失效。有很大一部分的電子元器件在極端溫度和惡劣環(huán)境下工作,造成不能正常工作,也有很大一部分元器件在研發(fā)的時候就止步于實驗室和晶圓廠里。除去人為使用不當(dāng)、浪涌和靜電擊穿等等都是導(dǎo)致半導(dǎo)體器件的壽命縮短的原因,除此之外,有些運行正常的器件也受到損害,出現(xiàn)元器件退化。
芯片開封也稱為元器件開蓋,開帽,是常用的一種失效分析時破壞性檢測方法。給完整封裝的IC做局部腐蝕,使得IC可以暴露出來,同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-不受損傷,為下一步芯片失效分析實驗做準(zhǔn)備,方便觀察或做其他測試(如FIB,EMMI),Decap后功能正常。那么開封是什么?開封對我們有什么用處?第三方實驗室又是怎么開封的呢?現(xiàn)在帶大家一起來詳細(xì)了解。
芯片失效分析時需分析內(nèi)部的芯片、打線、組件時,因封裝膠體阻擋觀察,利用「laser蝕刻」及「濕式蝕刻」兩種搭配使用,開蓋(Decap)、去膠(去除封膠,Compound Removal),使封裝體內(nèi)包覆的對象裸露出來,以便后續(xù)相關(guān)實驗處理、觀察。芯片開封相當(dāng)于是給芯片做外科手術(shù),通過開封我們可以直觀的觀察芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu),開封后可以結(jié)合OM分析判斷樣品現(xiàn)狀和可能產(chǎn)生的原因。本文收集整理了一些芯片開蓋檢測相關(guān)資料,期望本文能對各位讀者有比較大的參閱價值。
IC開蓋,又稱為開片,開封,開帽,DECAP,Decapsulation,IC去封膠,是指去除掉IC的管芯(DIE,晶圓)上面的環(huán)氧樹脂或者其他成分的封裝材料,露出管芯,為IC解密,F(xiàn)IB,拍照或者防止解密等做準(zhǔn)備,正常的開片是不損害母片的功能。開封去蓋是一種理化結(jié)合的試驗,將芯片外表面的環(huán)氧樹脂膠體溶掉,保留完整的晶?;蚪鹁€,便于檢查晶粒表面的重要標(biāo)識、版圖布局、工藝缺陷等。