電路故障是每個(gè)工程師都比較頭疼的事情,電子元器件在使用過(guò)程中,也會(huì)出現(xiàn)失效和故障,從而影響設(shè)備的正常工作。下面就來(lái)了解一下電子元器件的失效分析和故障原因。如果熟悉了元器件的故障類(lèi)型,有時(shí)通過(guò)直覺(jué)就可迅速的找出故障元件,有時(shí)只要通過(guò)簡(jiǎn)單的電阻、電壓測(cè)量即可找出故障。
1、 電阻器類(lèi)
電阻器類(lèi)元件包括電阻元件和可變電阻元件,固定電阻通常稱(chēng)為電阻,可變電阻通常稱(chēng)為電位器。電阻器類(lèi)元件在電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類(lèi),即致命失效和參數(shù)漂移失效?,F(xiàn)場(chǎng)使用統(tǒng)計(jì)表明,電阻器失效的85%~90% 屬于致命失效,如斷路、機(jī)械損傷、接觸損壞、短路、絕緣、擊穿等,只有1 0 % 左右的是由阻值漂移導(dǎo)致失效。
電阻器電位器失效機(jī)理視類(lèi)型不同而不同。非線形電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、阻值漂移、引線機(jī)械損傷和接觸損壞;線繞電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、引線機(jī)械損傷和接觸損壞。主要有以下四類(lèi):
(1 )碳膜電阻器。引線斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線端接觸不良、膜與基體污染等。
(2)金屬膜電阻器。電阻膜不均勻、電阻膜破裂、引線不牢、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線斷裂、電暈放電等。
(3 )線繞電阻器。接觸不良、電流腐蝕、引線不牢、線材絕緣不好、焊點(diǎn)熔解等。
(4 )可變電阻器。接觸不良、焊接不良、接觸簧片破裂或引線脫落、雜質(zhì)污染、環(huán)氧膠不好、軸傾斜等。
電阻容易產(chǎn)生變質(zhì)和開(kāi)路故障。電阻變質(zhì)后往往是阻值變大的漂移。電阻一般不進(jìn)行修理,而直接更換新電阻。線繞電阻當(dāng)電阻絲燒斷時(shí),某些情況下可將燒斷處理重新焊接后使用。
電阻變質(zhì)多是由于散熱不良,過(guò)分潮濕或制造時(shí)產(chǎn)生缺陷等原因造成的,而燒壞則是因電路不正常,如短路、過(guò)載等原因所引起。電阻燒壞常見(jiàn)有兩種現(xiàn)象,一種是電流過(guò)大使電阻發(fā)熱引起電阻燒壞,此時(shí)電阻表面可見(jiàn)焦糊狀,很易發(fā)現(xiàn)。另一種情況是由于瞬間高壓加到電阻上引起電阻開(kāi)路或阻值變大,這種情況,電阻表面一般沒(méi)有明顯改變,在高壓電路經(jīng)??砂l(fā)現(xiàn)這種故障現(xiàn)象的電阻。
可變電阻器或電位器主要有線繞和非線繞兩種。它們共同的失效模式有:參數(shù)漂移、開(kāi)路、短路、接觸不良、動(dòng)噪聲大,機(jī)械損傷等。但是實(shí)際數(shù)據(jù)表明:實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)與現(xiàn)場(chǎng)使用之間主要的失效模式差異較大,實(shí)驗(yàn)室故障以參數(shù)漂移居多,而現(xiàn)場(chǎng)以接觸不良、開(kāi)路居多。
電位器接觸不良的故障,在現(xiàn)場(chǎng)使用中普遍存在。如在電信設(shè)備中達(dá)9 0 % ,在電視機(jī)中約占8 7 %,故接觸不良對(duì)電位器是致命的薄弱環(huán)節(jié)。造成接觸不良的主要原因如下:
(1)接觸壓力太小、簧片應(yīng)力松弛、滑動(dòng)接點(diǎn)偏離軌道或?qū)щ妼?、機(jī)械裝配不當(dāng),又或很大的機(jī)械負(fù)荷(如碰撞、跌落等)導(dǎo)致接觸簧片變形等。
(2 )導(dǎo)電層或接觸軌道因氧化、污染,而在接觸處形成各種不導(dǎo)電的膜層。
(3 )導(dǎo)電層或電阻合金線磨損或燒毀,致使滑動(dòng)點(diǎn)接觸不良。
電位器開(kāi)路失效主要是由局部過(guò)熱或機(jī)械損傷造成的。例如,電位器的導(dǎo)電層或電阻合金線氧化、腐蝕、污染或者由于工藝不當(dāng)(如繞線不均勻,導(dǎo)電膜層厚薄不均勻等)所引起的過(guò)負(fù)荷,產(chǎn)生局部過(guò)熱,使電位器燒壞而開(kāi)路;滑動(dòng)觸點(diǎn)表面不光滑,接觸壓力又過(guò)大,將使繞線嚴(yán)重磨損而斷開(kāi),導(dǎo)致開(kāi)路;電位器選擇與使用不當(dāng),或電子設(shè)備的故障危及電位器,使其處于過(guò)負(fù)荷或在較大的負(fù)荷下工作。這些都將加速電位器的損傷。
2、電容器類(lèi)
電容器常見(jiàn)的故障現(xiàn)象主要有擊穿、開(kāi)路、電參數(shù)退化、電解液泄漏及機(jī)械損壞等。導(dǎo)致這些故障的主要原因如下:
(1)擊穿。介質(zhì)中存在疵點(diǎn)、缺陷、雜質(zhì)或?qū)щ婋x子;介質(zhì)材料的老化;電介質(zhì)的電化學(xué)擊穿;在高濕度或低氣壓環(huán)境下極間邊緣飛??;在機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路;金屬離子遷移形成導(dǎo)電溝道或邊緣飛弧放電;介質(zhì)材料內(nèi)部氣隙擊穿造成介質(zhì)電擊穿;介質(zhì)在制造過(guò)程中機(jī)械損傷;介質(zhì)材料分子結(jié)構(gòu)的改變以及外加電壓高于額定值等。
(2)開(kāi)路。擊穿引起電極和引線絕緣;電解電容器陽(yáng)極引出箔被腐蝕斷(或機(jī)械折斷);引出線與電極接觸點(diǎn)氧化層而造成低電平開(kāi)路;引出線與電極接觸不良或絕緣;電解電容器陽(yáng)極引出金屬箔因腐蝕而導(dǎo)致開(kāi)路;工作電解質(zhì)的干涸或凍結(jié);在機(jī)械應(yīng)力作用下電解質(zhì)和電介質(zhì)之間的瞬時(shí)開(kāi)路等。
(3)電參數(shù)退化。潮濕與電介質(zhì)老化與熱分解;電極材料的金屬離子遷移;殘余應(yīng)力存在和變化;表面污染;材料的金屬化電極的自愈效應(yīng);工作電解質(zhì)的揮發(fā)和變稠;電極的電解腐蝕或化學(xué)腐蝕;引線和電極接觸電阻增加;雜質(zhì)和有害離子的影響。
由于實(shí)際電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的,因而會(huì)產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機(jī)理,還會(huì)有一種失效模式導(dǎo)致另外失效模式或失效機(jī)理的發(fā)生。例如,溫度應(yīng)力既可以促使表面氧化、加快老化的影響程度、加速電參數(shù)退化,又會(huì)促使電場(chǎng)強(qiáng)度下降,加速介質(zhì)擊穿的早日到來(lái),而且這些應(yīng)力的影響程度還是時(shí)間的函數(shù)。因此,電容器的失效機(jī)理與產(chǎn)品的類(lèi)型、材料的種類(lèi)、結(jié)構(gòu)的差異、制造工藝及環(huán)境條件、工作應(yīng)力等諸因素等有密切關(guān)系。
電容器出現(xiàn)擊穿故障非常容易發(fā)現(xiàn),但對(duì)于有多個(gè)元件并聯(lián)的情況,要確定具體的故障元件卻較為困難。電容器開(kāi)路故障的確定可通過(guò)將相同型號(hào)和容量的電容與被檢測(cè)電容并聯(lián),觀察電路功能是否恢復(fù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。電容電參數(shù)變化的檢查較為麻煩,一般可按照下面方法進(jìn)行。
首先應(yīng)將電容器的其中一條引線從電路板上燙下來(lái),以避免周?chē)挠绊?。其次根?jù)電容器的不同情況用不同的方法進(jìn)行檢查。
(1)電解電容器的檢查。將萬(wàn)用表置于電阻擋,量程視被測(cè)電解電容的容量及耐壓大小而定。測(cè)量容量小、耐壓高的電解電容,量程應(yīng)位于R *10kW 擋;測(cè)量容量大、耐壓低的電解電容,量程應(yīng)位于R*1 k W 擋。觀察充電電流的大小、放電時(shí)間長(zhǎng)短(表針退回的速度)及表針最后指示的阻值。
電解電容器質(zhì)量好壞的鑒別方法如下:
①充電電流大,表針上升速度快,放電時(shí)間長(zhǎng),表針的退回速度慢,說(shuō)明容量足。
②充電電流小,表針上升速度慢,放電時(shí)間短,表針的退回速度快,說(shuō)明容量小、質(zhì)量差。
③充電電流為零,表針不動(dòng),說(shuō)明電解電容器已經(jīng)失效。
④放電到最后,表針退回到終了時(shí)指示的阻值大,說(shuō)明絕緣性能好,漏電小。
⑤放電到最后,表針退回到終了時(shí)指示的阻值小,說(shuō)明絕緣性能差,漏電嚴(yán)重。
(2 )容量為1 mF 以上的一般電容器檢查??捎萌f(wàn)用表電阻擋(R &TImes; 1 0 k W)同極性多次測(cè)量法來(lái)檢查漏電程度及是否擊穿。將萬(wàn)用表的兩根表筆與被測(cè)電容的兩根引線碰一下,觀察表針是否有輕微的擺動(dòng)。對(duì)容量大的電容,表針擺動(dòng)明顯;對(duì)容量小的電容,表針擺動(dòng)不明顯。緊接著用表筆再次、三次、四次碰電容器的引線(表筆不對(duì)調(diào)),每碰一次都要觀察針是否有輕微的擺動(dòng)。如從第二次起每碰一次表針都擺動(dòng)一下,則說(shuō)明此電容器有漏電。如接連幾次碰時(shí)表針均不動(dòng),則說(shuō)明電容器是好的。如果第一次相碰時(shí)表針就擺到終點(diǎn),則說(shuō)明電容器已經(jīng)被擊穿。另外,對(duì)于容量為1mF~20mF的電容器,有的數(shù)字萬(wàn)用表可以測(cè)量。
(3 )容量為1 mF 以下的電容器檢查??梢允褂脭?shù)字萬(wàn)用表的電容測(cè)量擋較為準(zhǔn)確地測(cè)得電容器的實(shí)際數(shù)值。若沒(méi)有帶電容測(cè)量功能的數(shù)字萬(wàn)用表,只能用歐姆擋檢查它是否擊穿短路。用好的相同容量的電容器與被懷疑的電容器并聯(lián),檢查它是否開(kāi)路。
(4 )電容器參數(shù)的精確測(cè)量。單個(gè)電容器容量的精確測(cè)量可使用LCR 電橋,耐壓值的測(cè)量可采用晶體管特性測(cè)試儀。
以上就是《談?wù)勲娮釉骷氖Х治龊凸收显颉返乃袃?nèi)容,能夠清楚地知道電子元器件故障失效是怎么樣的,故障造成的原因有哪些,不僅在電路維修中能有更高的效率,還能對(duì)電路的不足之處進(jìn)行改善。