X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會以X-Ray形式放出。便于分析金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測，BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析；判別空焊，虛焊等BGA焊接缺陷，微電子系統(tǒng)和膠封元件，電纜，裝具，塑料件內(nèi)部情況等等。仿冒品幾乎出現(xiàn)在每個(gè)行業(yè)，有關(guān)元件仿冒的問題普遍存在，并且已經(jīng)滲透到整個(gè)電子元件供應(yīng)鏈了，設(shè)備制造商們極需建立一個(gè)強(qiáng)大的防御體系。
假冒芯片如何產(chǎn)生？一個(gè)晶圓上有成百上千個(gè)芯片，晶圓生產(chǎn)好后要經(jīng)過測試并把不好的標(biāo)記上；通過測試的晶圓被切割并封裝，封裝好后就是我們看到的帶管腳的芯片了，在封裝階段標(biāo)記為不好的芯片同樣會被丟棄。未通過測試的晶片由買裸片的廠家回收，自己切割、綁定，但標(biāo)記為不好的芯片也會被丟棄。
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假冒芯片的危害？切勿低估電子元件在您的項(xiàng)目和業(yè)務(wù)運(yùn)營中的重要性。即使是小部件也可能會造成或破壞設(shè)備。如果某些項(xiàng)目發(fā)生故障或未按預(yù)期執(zhí)行，則會導(dǎo)致與安全和產(chǎn)品性能相關(guān)的問題。假冒部件存在問題主要是因?yàn)樗鼈兊馁|(zhì)量較差，因此它們比真正的部件更可能發(fā)生故障。
一部分假冒電子元器件比較容易辨識出來。典型的例子包括出現(xiàn)錯(cuò)誤的元件編號、可疑的公司標(biāo)志、缺少某些編號順序、外包裝上的刮痕、錯(cuò)誤的元件分類或品名等。其他的細(xì)節(jié)部份則難以檢測，因而必須進(jìn)行解構(gòu)性的測試。這一類仿冒元件的做法通常是從拆解廢棄IC以取得元件。這些元件使用新的焊線焊接在原來的接點(diǎn)上，并以軍事級的封裝重新進(jìn)行包裝。這種仿冒芯片就必須經(jīng)由X光檢查，進(jìn)一步拆解其封裝并進(jìn)行電子測試，才能確認(rèn)其真?zhèn)巍?/p>
為什么IC元器件造假屢禁不止？暴利是不法分子鋌而走險(xiǎn)最重要的原因。造假的元器件，大都是從國外按噸回收的“洋垃圾”（很多元器件國內(nèi)沒法造，都是從國外進(jìn)口的），經(jīng)過分揀，拆解，編帶，抽真空，打標(biāo)，翻新等一系列工序，便成跟新的一樣。這種拆機(jī)件價(jià)格比新貨便宜很多。通常正規(guī)的測試流程費(fèi)時(shí)、成本高，所以有些晶圓廠會把未經(jīng)過測試的晶圓賣給需要裸片的廠家，并由后者自己測試。但后者通常沒有好的測試設(shè)備，同時(shí)為省錢減少測試項(xiàng)目，致使一些本來在半導(dǎo)體廠不能通過的芯片用在了最終的產(chǎn)品中，造成產(chǎn)品質(zhì)量的不穩(wěn)定。
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由假元器件引起的問題可能會影響到其所在的電路和其他附近的元件，使得損壞更加昂貴且難以修復(fù)。元器件通過x-ray檢測就無所遁形了，X-RAY檢測，新的技術(shù)變革帶來新的發(fā)展機(jī)遇，它具有“超硬核”的穿透檢測能力。利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透，在不損壞被檢品的前提下，能快速、精準(zhǔn)檢測被檢品品質(zhì)狀況。
