電子電器的可靠性測試通常包括哪些方面?

日期:2024-01-23 15:48:48 瀏覽量:544 標(biāo)簽: 可靠性測試

為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。對于不同的產(chǎn)品,為了達到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗方法??煽啃詼y試也稱產(chǎn)品的可靠性評估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。本文收集整理了一些資料,期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

電子電器的可靠性測試通常包括哪些方面?

電子電器做可靠性試驗的目的:

1、為廠家提供出廠依據(jù),能夠更直接的檢測產(chǎn)品的質(zhì)量及性能,有利于廠家技術(shù)方面的改進與提高,以便更好的服務(wù)客戶。

2、客戶在使用過程中,偶爾不小心會跌落底下或浸到液體等不可預(yù)測的事件發(fā)生,對產(chǎn)品造成破壞,可靠性測試可以針對這些不定因素做相關(guān)檢驗。

電子電器的可靠性測試方法:

1.儲存環(huán)境試驗

試驗條件:-20℃ 8H~60℃ 8H 濕度:90%

試驗方法:在完整包裝的狀態(tài)下將機器分別經(jīng)過高/低溫儲存后,恢復(fù)到常溫下對機器進行外形、結(jié)構(gòu)和性能方面的檢測。

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):外觀和機構(gòu)上無大異常,功能上測試無異常。

2.裸機跌落試驗

試驗條件:常溫常濕的環(huán)境下

試驗方法:保證電子產(chǎn)品在關(guān)機狀態(tài)下,在64mm厚水泥材料且表面貼20mm厚木板上進行,正面背面?zhèn)让娓鞯湟淮危瑐?cè)按鍵面不做測試。落下高度:80CM

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):外殼結(jié)構(gòu)不可出現(xiàn)永久性損壞,試驗后功能上應(yīng)無異常。

3.高溫/低溫啟動試驗

試驗條件:高溫啟動:將產(chǎn)品放置在 45℃ 80% RH 的恒溫恒濕機內(nèi);低溫啟動: 將產(chǎn)品放置在0℃的恒溫恒濕機內(nèi)

試驗方法:在對應(yīng)的恒溫恒濕機內(nèi)保持4 小時開機測試樣機的,檢驗所有功能是否正常。

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):樣機應(yīng)能在高/低溫條件下正常啟動,且所有功能均能正常實現(xiàn)。

4.振動試驗

試驗條件:產(chǎn)品以包裝方式進行試驗,振動類型:隨機振動

試驗方法:振動頻率為50Hz,振動時間為每個方向20分鐘,震動測試方向為X.Y.Z,

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):試驗完畢后按照出貨檢驗標(biāo)準(zhǔn)檢查機臺是否有異常,運行的振動則以振動中機臺,是否能夠繼續(xù)正常工作。

5.老化試驗

試驗條件:常溫常濕正常開機狀態(tài)下

試驗方法:充電循環(huán),反復(fù)循環(huán),重復(fù)循環(huán)續(xù)播放視頻;音量開到最大,并設(shè)置Repeat all播放模式。

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):充放電正常,播放中無當(dāng)機,死機,顯示不良及聲音輸出異常等不良現(xiàn)象。

6.按鍵壽命試驗

試驗條件:無任何破損狀態(tài)下

試驗方法:機器上所有的按鍵連續(xù)按5000次,看看按鍵功能和實際的壽命

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):低于5000次測判定不合格

7.插拔力試驗

試驗條件:在關(guān)機狀態(tài)下測試

試驗方法:使用耳機治具,電源插頭治具,USB插頭治具,TF卡治具,HDMI治具,連續(xù)拔插1000次。

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):低于1千次測判定不合格。

8.鹽霧試驗

試驗條件:在關(guān)機狀態(tài)下測試

試驗方法:人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能,鹽霧濃度以及試驗時間根據(jù)客戶實際要求進行試驗。

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):1.計算腐蝕面積并評級(GB/T 6461);

2.外觀描述:是否生銹、生銹類型、腐蝕程度等、是否有氣泡/開裂等

3.檢查功能(僅針對成品);

4.其他評價:如附著力、鉛筆硬度、腐蝕寬度等。

9.防水防塵等級測試

試驗條件:在關(guān)機狀態(tài)下測試

試驗?zāi)康模候炞C產(chǎn)品外殼的防護作用

試驗方法:使用噴水、水池、防塵箱等設(shè)備根據(jù)不同的IP等級要求來對產(chǎn)品進行不同程度的試驗。 具體測試方法和要求可以看我的另一篇文章:可靠性試驗-IP等級測試基本概念以及各等級測試要求介紹

試驗判定標(biāo)準(zhǔn):產(chǎn)品內(nèi)部不能進水和積塵。

10.UV老化試驗

試驗條件:在關(guān)機狀態(tài)下測試

試驗方法:老化試驗是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實使用條件中涉及到的各種因素對產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進行相應(yīng)條件加強實驗的過程。UV老化主要模擬產(chǎn)品在戶外使用時,長期暴露在陽光照射下的情況,通過UV紫外線來模擬長時間太陽光照射的影響。

以上是創(chuàng)芯檢測網(wǎng)站整理的電子電器的可靠性測試相關(guān)內(nèi)容,希望對您有所幫助。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu),目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電,我們將竭誠為您服務(wù)!

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