機(jī)械零部件缺陷采用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)
日期：2021-09-07 14:39:22 瀏覽量：1561 標(biāo)簽: 無(wú)損檢測(cè)
現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)離不開(kāi)各種機(jī)械的使用，隨著工業(yè)生產(chǎn)節(jié)奏的加快，機(jī)械設(shè)備中各種零件的損耗越來(lái)越大。一旦出現(xiàn)缺陷，就會(huì)對(duì)機(jī)械設(shè)備造成隱患，也可能對(duì)生產(chǎn)者的生命安全構(gòu)成威脅。因此，機(jī)械零件的缺陷檢測(cè)非常重要。機(jī)械設(shè)備零件是現(xiàn)代工業(yè)不可缺少的基本條件。各行各業(yè)對(duì)機(jī)械設(shè)備零件的需求越來(lái)越大，機(jī)械零件的質(zhì)量直接影響機(jī)械設(shè)備的使用壽命。一旦機(jī)械零件出現(xiàn)缺陷，就會(huì)導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)故障隱患，甚至危及機(jī)械設(shè)備操作人員的生命安全。因此，必須在不損壞或不影響被測(cè)物體使用性能的前提下，檢測(cè)零件是否有缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性能、數(shù)量等信息，進(jìn)而判斷被測(cè)物體所處的技術(shù)狀況。
機(jī)械零件的缺陷主要表現(xiàn)為表面缺陷和內(nèi)部缺陷。對(duì)于表面缺陷，通?？梢杂萌庋壑苯釉诹慵砻嬗^察，也可以用普通檢測(cè)設(shè)備觀察。但是零件的內(nèi)部缺陷往往很難通過(guò)肉眼和外部檢測(cè)設(shè)備找到。內(nèi)部缺陷的常見(jiàn)原因是零件鍛造或鑄造時(shí)產(chǎn)生的，內(nèi)部有氣孔、松動(dòng)、裂紋等。體積大，軸向延伸程度大。
對(duì)于內(nèi)部缺陷的檢測(cè)，傳統(tǒng)的方法是進(jìn)行破壞性檢測(cè)，即切割零件，然后用酸浸泡，以便看到內(nèi)部缺陷。使用傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且同樣的缺陷也會(huì)因檢測(cè)人員的檢測(cè)水平不同而有不同的判斷水平。同時(shí)，一旦發(fā)現(xiàn)抽檢的零件沒(méi)有缺陷，也會(huì)給制造商造成一定的損失。因此，將采用無(wú)損檢測(cè)方法來(lái)檢測(cè)機(jī)械零件的缺陷。
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機(jī)械零件無(wú)損檢測(cè)主要采用x射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備
探傷機(jī)的x射線發(fā)生器主要由x射線管和高壓電源組成。x射線管由安裝在真空玻璃殼中的陰極和陽(yáng)極組成，陰極是鎢燈，安裝在聚焦杯中。當(dāng)燈通電加熱時(shí)，電子蒸發(fā)，聚焦杯將這些電子聚焦成束，直接向嵌在銅陽(yáng)極中的靶體射擊。高電壓加在x射線管的兩極之間，使電子在射向靶體之前加速到很高的速度。目標(biāo)一般由鎢、鉑、金、鉭等高原子序數(shù)的難熔金屬制成，高速電子轟擊目標(biāo)產(chǎn)生x射線。x射線管工作時(shí)，目標(biāo)體會(huì)產(chǎn)生大量熱量，必須采取適當(dāng)措施導(dǎo)出熱量。
x光發(fā)生器為組合結(jié)構(gòu)，x光管、高壓變壓器(包括x光管燈絲繞組)與絕緣氣體(SF6)一起封裝在桶裝鋁殼中。x光發(fā)生器配有風(fēng)扇和散熱器，用于冷卻。使用的絕緣氣體(SF6)對(duì)高電壓具有良好的介電性能。x光發(fā)生器主要包括x光管、高壓變壓器、氣壓計(jì)、連接電纜插座和報(bào)警燈插座。
此前無(wú)損檢測(cè)這個(gè)詞最早被稱為探傷或無(wú)損檢測(cè)，不同的方法也被稱為探傷，如射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷等。這種稱呼或?qū)懽鲝V泛傳播，并且一直使用到目前為止，其利用率不亞于無(wú)損檢測(cè)這個(gè)詞。
