電子元器件失效分析(FA)常見類型及方法

日期:2021-09-23 15:54:37 瀏覽量:4111 標(biāo)簽: 失效分析 元器件失效分析

失效是指電子元器件出現(xiàn)的故障。各種電子系統(tǒng)或者電子電路的重要組成部分一般是不同類型的元器件,當(dāng)它需要的元器件較多時,則標(biāo)志其設(shè)備的復(fù)雜程度就較高;反之,則低。一般還會把電路故障定義為:電路系統(tǒng)規(guī)定功能的喪失。失效分析通過電學(xué)、物理與化學(xué)等一系列分析技術(shù)手段獲得電子產(chǎn)品失效機理與原因的過程?;讷@得的失效機理和原因,可以采取針對性的改進措施,提升產(chǎn)品的可靠性與成品率,縮短研發(fā)周期,鑄就好的品牌,解決技術(shù)糾紛,節(jié)約成本等。

失效分析常見類型:

早期失效率高的原因是產(chǎn)品中存在不合格的部件;晚期失效率高的原因是產(chǎn)品部件經(jīng)長期使用后進入失效期。機械產(chǎn)品中的磨合、電子元器件的老化篩選等就是根據(jù)這種失效規(guī)律而制定的保證可靠性的措施。失效按其工程含義分為暫失效和一直失效、突然失效和漸變失效,按經(jīng)濟觀點分為正常損耗失效、本質(zhì)缺陷失效、誤用失效和超負(fù)荷失效。產(chǎn)品的種類和狀態(tài)繁多,失效的形式也千差萬別。因此對失效分析難以規(guī)定統(tǒng)一的模式。失效分析可分為整機失效分析和零部件殘骸失效分析,也可按產(chǎn)品發(fā)展階段、失效場合、分析目的進行失效分析。失效分析的工作程序通常分為明確要求,調(diào)查研究,分析失效機制和提出對策等階段。失效分析的核心是失效機制的分析和揭示。

失效分析的主要分類:

1、狹義的失效分析:主要目的在于找出引起產(chǎn)品失效的直接原因。

2、廣義的失效分析:不僅要找出引起產(chǎn)品失效的直接原因,而且要找出技術(shù)管理方面的薄弱環(huán)節(jié)。

3、新品研制階段的失效分析:對失效的研制品進行失效分析。

4、產(chǎn)品試用階段的失效分析:對失效的試用品進行失效分析。

5、定型產(chǎn)品使用階段的失效分析:對失效的定型產(chǎn)品進行失效分析。

電子元器件失效分析(FA)常見類型及方法

電子元器件失效分析方法:

1、拔出插入

拔出插入法是指通過對組件板或者插件板拔出又插入的過程進行監(jiān)視,以此為根據(jù),判斷拔出插入的連接界面是否就是故障發(fā)生的地方。值得注意的是,采用拔出插入法進行失效分析時,在組件板或者插件板拔出又插入的過程當(dāng)中,會存在特殊狀況,即狀態(tài)發(fā)生改變的地方有時不僅是連接接口,還有可能是其他部位。所以在應(yīng)用拔出插入法時,要注意觀察每個部位及微妙的變化,才能做出正確的判斷。

2、感官辨別

通過眼觀部件外形、手觸感知部件溫度與軟硬程度、鼻嗅味道、耳聽聲音,判斷是否存在異常的方式即為感官辨別法。感官辨別法操作簡便、省錢,只是能夠辨別的內(nèi)容會受感官能力的制約。

3、電源拉偏

電源拉偏法是指把正常的電源與電壓拉偏,使其處于非正常狀態(tài),然后暴露出薄弱環(huán)節(jié)或故障,進而可以反映出故障或瀕臨故障的組件、元器件部位。這種方法一般用在由于工作時間較長導(dǎo)致的故障或初步判斷是電網(wǎng)波動引發(fā)故障的情況。值得提醒的是,電源拉偏法具有一定的破壞性,使用這種方法前一定要檢查保險系數(shù)或其他因素,切記勿隨便使用。

4、換備件

通過對被取下值得懷疑的元器件或部件的監(jiān)視,然后把合格的備件換上之后,再對出現(xiàn)的故障現(xiàn)象進行對比分析,如看其故障現(xiàn)象有無消失,最后確定故障源點是否處于被取下的部件中,這種方法即為換上備件法。

通過對電子元器件的失效分析,診斷失效產(chǎn)品的失效機理,以失效機理為引導(dǎo),進一步分析誘發(fā)失效機理的根本原因,最終元器件失效的根本原因及電路工作狀態(tài)可能產(chǎn)生影響的關(guān)鍵因素考慮進去,通過嚴(yán)密的容差設(shè)計、邏輯推理、器件選型的參數(shù)圈定在可控的范圍等針對性的措施。實現(xiàn)對所設(shè)計電路的余量和風(fēng)險受控于最佳的狀態(tài),實現(xiàn)運籌帷幄、決勝千里的效果。

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