電子失效分析對象有哪些?第三方失效分析檢測
日期：2022-01-05 14:55:00 瀏覽量：1563 標簽: 失效分析
失效分析是一門新興發(fā)展的學科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術開發(fā)、改進，產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。全面系統(tǒng)的失效分析可以確定失效的原因，對于器件設計、制造工藝、試驗或應用的改進具有指導作用，采取相應的糾正措施消除失效模式或機理產(chǎn)生的原因，從而實現(xiàn)器件以及裝備整體可靠性的提高。
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通過失效分析可以發(fā)現(xiàn)失效器件的固有質(zhì)量問題，也有可能發(fā)現(xiàn)元器件因不按規(guī)定條件使用而失效的使用質(zhì)量問題，通過向有關方面反饋，促使責任方采取糾正措施，以便消除所報告的失效模式或機理產(chǎn)生的原因，防止其再次出現(xiàn)，對提高元器件的固有質(zhì)量或使用質(zhì)量都起到十分重要的作用。
失效分析對象
★各種材料和零件（金屬、塑料、陶瓷、玻璃等）
★電子元件（電阻、電容、電阻網(wǎng)絡、電感、繼電器、電連接器、接觸器等）
★半導體分立器件（二極管、三極管、場效應管、可控硅、晶體振蕩器、光電耦合器、二極管堆、IGBT等）
★機電類器件（繼電器，機械開關、MEMS）
★線纜及接插件（航空連接器，各類型線纜）
★微處理器（51系列單片機，DSP，SOC等）
★可編程邏輯器件(GAL、PAL、 ECL 、FPGA、、CPLD、EPLD等)
★存儲器(EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等)
★AD/DA（DAC7611、MAX525、ADC0832、AD9750等）
★通用數(shù)字電路（CMOS 4000系列、54系列、80系列）
★模擬器件（運算放大器、電壓比較器、跟隨器系列、壓控振蕩器、采樣保持器等）
★微波器件（倍頻器、混頻器、接收器、收發(fā)器、上變頻器、壓控振蕩器、放大器、功分器、耦合器等）
★電源類（線性穩(wěn)壓器、開關電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理、LED、PWM控制器、DC/DC等）
器件類別 | 器件細分類別 |
| 元件（阻容感、 開關、繼電器、保險、連接器、電纜等） | 金屬膜電阻器、片式固定電阻器、金屬箔固定電阻器、線繞電阻器、電位器、熱敏電阻器（溫度傳感器） |
| 陶瓷電容器（圓片）、瓷片電容器（多層片式）、云母電容器、 薄膜電容器、非固體電解質(zhì)鉭電容器、固體電解質(zhì)鉭電容器、片式固體電解質(zhì)鉭電容器 | |
| 共模抑制電感 、環(huán)形電感 、晶體諧振器、連接器、電磁繼電器、固體繼電器、開關、光電耦合器、接口變壓器、壓力傳感器、真空熒光管 | |
| 器件 /模塊 | 二極管、 三極管、MOS管、光耦 |
| IGBT、整流橋堆、可控硅 | |
| 模塊(電源、功率、微波等) | |
| 集成電路(小規(guī)模IC) | |
| 封裝（DIP TO等） | |
| 集成電路(中小規(guī)模IC) | |
| 封裝（QFN\QFP\CSP 等） | |
| 存儲器、DSP、CPU、FPGA |
失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段，涉及產(chǎn)品的研發(fā)設計、來料檢驗、加工組裝、測試篩選、客戶端使用等各個環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的樣品，確認失效模式、分析失效機理，明確失效原因，最終給出預防對策，減少或避免失效的再次發(fā)生。
